解像特性2

200X年 国家試験問題
ディジタルX線画像の入出力特性で正しいのは
どれか.2つ選べ.
1.
2.
3.
4.
5.
ディジタル特性曲線は写真濃度で表す
ディジタル特性曲線は相対X線強度で表す
ディスプレイの特性はX線量で表す
オーバーオール特性曲線はピクセル値で表す
特性曲線の測定法にタイムスケール法を用いる
200X年 国家試験問題
ディジタルラジオグラフィの特性曲線から読み
取れないのはどれか.
1.
2.
3.
4.
5.
解像度
相対感度
入出力直線性
ダイナミックレンジ
システムコントラスト
・線広がり関数
line spread function
MTF
(
相相
対対
X露
線光
強量
度
)
LSF
FT
line image distribution
潜像 (光強度)
S/F
現像
IP
display
濃度
特性曲線
濃度
距離
距離
距離
・線像分布
相対露光量
距離
・線形化 or
・有効露光量変換
・点広がり関数
・点像分布
point spread function
PSF
point image distribution
潜像 (光強度)
S/F
現像
IP
display
相対露光量
MTF
線形化
FT
PSF
濃度
PSFの空間的な広がりの程度は,画像の最小な構成単位である
点がどの程度ボケるかを表す.線形で位置不変なシステムでは,
PSF と 入 力 信 号 分 布 f(x,y) が わ かっ て れ ば , 両 者 の 重畳 積 分
(convolution)により,画像の出力分布g(x,y)を知ることができる.
これとは逆に,システムのPSFが既知のとき,画像の出力分布
g(x,y)から入力X線分布f(x,y)を求める演算は,deconvolutionと呼
ばれる.
インパルス応答
g x, y   f x, y   PSF x, y 
FT
FT
FT
G u, v   F u, v  OTF u, v 
optical transfer function
光学伝達関数
|OTF| = MTF
LSFとPSFの関係
LSFからPSFは求まらない.

LSF  x    PSF  x, y dy

LSFのある位置での値は,
PSFの原点からx軸方向
に同じ距離だけ離れた位
置におけるy軸に平行な
面の断面積に一致する.
x
y
PSFの中心をとおる
断面がLSFではない.
x
FT
LSF  x 
MTF u 
1
線像の広がりが大きいほど,
MTFは急激に減少する
つまり,画像の細かい変化
(高周波成分)を再現できない
MTF
1.0
①
空間周波数
u
FT
LSF(x)
②
0.5
0
⑤
③
⑤
④
④
1
2
3
4
5
cycles/mm
6 7
①②
③
x
MTFの測定法
フーリエ変換法
システム関数を求める方法(1)
インパルス応答を測定してフーリエ変換する
・スリット法
slit method
・エッジ法
edge method
point spread function
line spread function を用いる
コントラスト法
・チャート法
システム関数を求める方法(2)
chart
method
正弦波を入力として,入出力の振幅比を求める
矩形波(方形波)チャートを用いる
slit and edge
f x   lim
h 0
slit
X線
f x  h   f x 
h
edge
X線
微分
エッジ像を微分すればスリット像になる
線形化
edge spread function: ESF
微分
線形化
line spread function: LSF
スリット法によるMTF測定
線形化
slit
slit像
H&D曲線
FT
LSF
入出力特性曲線


MTF
LSF  e  j 2ux dx

slit像の
作成
現像
処理
線形化するための
特性曲線の作成
MTF
濃度分布
測定
線形化
フーリエ変換
線像濃度
分布
ハロゲン化銀粒子
(カブリ濃度)
ベース
(ベース濃度)
line spread function
ベース濃度
+
カブリ濃度
線像強度分布
・truncation error
切断誤差
(裁断誤差)
・aliasing error
原因
カブリ
エリアシングエラー(折り返し誤差)
標本化定理に関係する誤差
トランケーションエラー
抑
制
法
X線フィルムで表現できる最も低い写真濃度(ベース+カブリ濃度)より低い値をもつ
LSFを求めることはできない.つまり,LSFの裾野が裁断(トランケーション)されたこ
とになる.→ MTFは振動し,正しい解像特性を示さない!
・倍数露光法 + ・指数関数によるLSF外挿法
基準露光の数倍の露光となるように撮影
この部分を平行
移動して基準露
光につなぎ合わ
せる
倍数露光
f(x)
裾野の測定データを
指数関数で近似する
例えば
基準露光
f  x   a  e b x
近似式を
用いて足り
ないデータ
を外挿する
x
エリアシングエラー
FT
x
x
FT
x
x
1
x
u
sampling定理
1
x 
2 f max
1
u
x
FT
x
x
1
x
u
サンプリングによる折り返し
MTF
1.0
0
1
x  x 
2 f max
アンダーサンプリングの場合,
ナイキスト周波数Fnyはfmaxより小
さくなる.このときFny以上の信号
は,点線のようにFnyを境に低空
間周波数側に折り返して加算さ
れる.このためエリアシング誤差
によってFny以下の信号として観
測され,元信号とは異なったもの
として表示される.
Fny
空間周波数 (cycles/mm)
fmax
エッジ法によるMTF測定
現像
処理
edgeの撮影
濃度分布
測定
特性曲線の作成
MTF
線形化
フーリエ変換
LSF
エッジレスポンス
の微分
微分
エッジ像
Edge spread function: ESF
LSF
3つの異なるシステムのMTF