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FE-SEM(JSM-7000F)
の利用者講習会を開催致します。
■講 習 日：５月 26 日(月)、27 日(火)、28 日(水)、29 日(木)、30 日(金)
６月 9 日(月)、10 日(火)、11 日(水)、12 日(木)、13 日(金)
■時
間：10：00～16：00（予定）
■定
員：５名
※各研究室２名まで
■持 参 品：筆記用具、ノート、ＵＳＢメモリ
■実施場所：機器分析センター１Ｆ Ｘ線元素分析室
■講
師：三好 規子
高倍率(3000 倍以上)の像観察を行う利用者
※低倍率(3000 倍以下)の像観察を行う場合は、3D-SEM、FE-SEM
(JSM-6701)を利用して下さい。
FE-SEM(JSM-7000F)は大変利用者が多いため、ご協力をお願い
します。
FE-SEM(JSM-7000F)は、講習会受講者に限り利用を許可しますので
利用予定のある研究室は必ず受講して下さい。尚、昨年度までに受講
された方も再受講可能です。
受講希望者は、必ず下記の申込要領で e-mail にて申込みを行ったうえ
受講してください。
装置講習会
①氏名
②職名(又は学年)
受講申込要領
③所属研究室(指導教員名)
申込締切：平成２６年５月２０日（火）１７：００
申 込 先：機器分析センター事務室
TEL
３３９１
e-mail([email protected])
授業等で受講できない日があれば申込時に明記して下さい。※後日、
受講日をご連絡します。