【国内特許】 公報番号 2014.9.18時点 発明の名称 1 特開2014-048233 促進酸化活性種の濃度測定方法および 濃度測定装置 2 特開2014-010034 エンドトキシンの測定方法及びエンドトキ シンのラマン分光用測定基板 3 特開2013-113676 不純物除去装置及び分光分析装置 4 特許第5462892 5 特許第4997652 6 特許第5404523 7 特許第5288197 8 特許第4911606 9 特許第4958220 出願人 学校法人関西学院 倉敷紡績株式会社 独立行政法人農業・食品産業技 術総合研究機構 学校法人関西学院 独立行政法人産業技術総合研究 所 有限会社マイテック 学校法人関西学院 横河電機株式会社 発明者 東 昇/苅山 直美/尾崎 幸洋/森澤 勇介/池羽田 晶文/後藤 剛喜 福岡 聰/伊藤 民武/山本 裕子/尾崎 幸洋/北濱 康孝/長谷川 裕起/長谷 川 克之 渡 正博/佐藤 光恵/源川 拓磨/尾崎 幸洋 全反射減衰型光学プローブおよびそれを 学校法人関西学院 用いた水溶液分光測定装置 倉敷紡績株式会社 学校法人関西学院 分光分析装置及び方法 横河電機株式会社 ヒドロキシルラジカル濃度の測定方法及 学校法人関西学院 び測定装置 倉敷紡績株式会社 学校法人関西学院 独立行政法人産業技術総合研究 走査型プローブ顕微鏡用プローブ及びそ 所 のプローブの作製方法 株式会社堀場製作所 東 昇/尾崎 幸洋/池羽田 晶文 全反射減衰型光学プローブおよびそれを 用いた水溶液分光測定装置 全反射減衰型光学プローブおよびそれを 用いた水溶液分光測定装置 東 昇/尾崎 幸洋/池羽田 晶文 学校法人関西学院 倉敷紡績株式会社 学校法人関西学院 倉敷紡績株式会社 学校法人関西学院 横河電機株式会社 10 特許第5165847 近赤外分光法における検量線補正方法 11 特許第4513061 特定サンプルスペクトルの変換を用いた 多変量解析検量線の作成方法 横河電機株式会社 12 特許第4367170 検量線移植方法 横河電機株式会社 渡 正博/尾崎 幸洋 東 昇/苅山 直美/尾崎 幸洋 伊藤 民武/北濱 康孝/尾崎 幸洋/青 山 淳一/西方 健太郎 東 昇/尾崎 幸洋/池羽田 晶文 渡 正博/尾崎 幸洋 尾崎 幸洋/渡 正博 尾崎 幸洋/渡 正博 【外国特許】 公報番号 US2014065717 KR20140031084 1 CN103674872 TW201411115 EP2395332 2 US2011307187 CN102364328 EP1970695 US7791729 3 KR20080082479 CN101261216 TW200842338 TWI414774 EP1998163 4 US7978331 KR20080103992 CN101400987 US5754289 EP0781990 5 DE69636862 CN1075195 US5870188 EP0764844 6 DE69636967 CN1097729 発明の名称 Concentration measuring method of active species for promoting oxidation and concentration measuring device 出願人 発明者 KURASHIKI BOSEKI KK HIGASHI NOBORU /KARIYAMA NAOMI/OZAKI YUKIHIRO/MORISAWA YUSUKE/IKEHATA AKIFUMI/GOTO TAKEYOSHI YOKOGAWA ELECTRIC CORP MASAHIRO WATARI/YUKIHIRO OZAKI KURASHIKI BOSEKI KK HIGASHI NOBORU/OZAKI YUKIHIRO/ IKEHATA AKIFUMI Total reflection attenuation KURASHIKI BOSEKI KK optical probe and aqueous solution spectrometric device HIGASHI NOBORU/OZAKI YUKIHIRO/ IKEHATA AKIFUMI Spectroscopic analyzer and spectroscopic analysis method Attenuated total reflection probe and spectrometer therewith Raman scattered light measuring apparatus OZAKI YUKIHIRO/DOU KYOTO DAIICHI KAGAKU KK XIAOMING/YAMAGUCHI YOSHINORI/UENOYAMA HARUMI Measuring method and measuring apparatus by light scattering OZAKI YUKIHIRO/YAMAGUCHI KYOTO DAIICHI KAGAKU KK YOSHINORI/DOU XIAOMING/ UENOYAMA HARUMI
© Copyright 2024