パワー半導体の未来とTCAD技術 中川 明夫 中川コンサルティング事務所 概要 1. パワーデバイスは中小企業。 (サムスンは参入しがたい?) 2. シリコンに注力すべき理由が多くある。 3. TCAD(既存物理モデル)でまだ大きな改善、発見の余地が ある。 GTOの電流集中 IEGT CoolMOS 電流集中 TCADの3次元の本格利用 1. パワーデバイスは パワーデバイスは中小企業 中小企業。 中小企業。 (サムスンは参入 サムスンは参入しがたい 参入しがたい?) しがたい?) 2. シリコンに注力すべき理由が多くある。 3. TCAD(既存物理モデル)でまだ大きな改善、発見の余地が ある。 GTOの電流集中 IEGT CoolMOS 電流集中 TCADの3次元の本格利用 2013年の半導体売上高 米IC Insights社 サムスン電子 2012年の売上高は、前年比21.9%増の201兆1,036億ウォン(約16兆8,800億円) 営業利益は、 同85.7%増の29兆493億ウォン(約2兆4,400億円) パワーデバイスの市場はサムスンには魅力がない? 事業分野内訳 コンシューマーエレクトロニクス(CE)事業 コンシューマーエレクトロニクス( )事業 TV、モニター、PC、プリンター、カメラ、エアコン、冷蔵庫等製造/販売 営業利益:2.3兆ウォン(1,900億円) IT&モバイルコミュニケーション( &モバイルコミュニケーション(IM)事業 &モバイルコミュニケーション( )事業 携帯電話、スマートフォン、タブレットPCなど携帯端末、通信システム 製造/販売 営業利益:19.44兆ウォン(1.62兆円) 半導体(Semi)事業 )事業 半導体( メモリー半導体、システムLSI半導体製造/販売 営業利益:4.17兆ウォン(3,475億円) ディスプレイパネル(DP)事業 ディスプレイパネル( )事業 LCDパネル、LEDパネル製造/販売 営業利益:3.21兆ウォン(2,675億円) パワーデバイスの市場 ◆ 2011年 2011年のパワー半導体世界市場 パワー半導体世界市場は 半導体世界市場は, 新興国向けの 新興国向けの需要 けの需要が 需要が拡大し 拡大し,156億 ,156億7,000万 7,000万ドルに達 ドルに達する見 する見 込み ◆ 2011年 2011年のパワー半導体市場 のパワー半導体市場は 半導体市場はIGBTが IGBTが市場を 市場を牽引, 牽引, 2009年 2009年と比較して 比較して市場全体 して市場全体に 市場全体に占めるIGBT めるIGBTの IGBTの 割合は 割合は12.4%上昇 12.4%上昇 2011年の市場規模をデバイス別に分析すると、IGBTが市場全体の29.5%(46億2,000万ドル)を占めている。新エネルギー、白物家電 、次世代自動車(HV/EV)向けのIGBTモジュールの需要拡大が進み、2009年の市場規模と比較すると、全体に占める割合は12.4%上 昇する見通しである。 2013年矢野経済研究所 ◆今後はパワーモジュールが 年におけるパワー半導体 今後はパワーモジュールが市場 はパワーモジュールが市場を 市場を牽引し 牽引し、2020年 におけるパワー半導体の 半導体の世界市場は 世界市場は 290億 億1,000 万ドルと ドルと予測 パワー半導体の世界市場は、2013年後半より回復基調に戻る可能性が高い。MOSFET、ダイオードなどの ディスクリート品から、パワーモジュールに市場の牽引役が移り、2020年におけるパワー半導体の世界市場 規模は290億1,000万ドル(メーカー出荷金額ベース)へ成長と予測する。 ◆SiC、 、GaNなどを などを使 年以降から などを使った次世代 った次世代パワー 次世代パワー半導体世界市場 パワー半導体世界市場は 半導体世界市場は、2015年以降 年以降から本格的 から本格的に 本格的に採用 億8,000万 万ドルに 拡大が 年の市場規模は ドルに達すると予測 すると予測 拡大が進み、2020年 市場規模は29億 次世代パワー半導体は、これまで一部用途に搭載機器は限定されていたが、コストダウンの進む2015年以 降から各需要分野での採用が拡大、本格的に市場が立ち上がる。2020年におけるSiC、GaNパワー半導体 の世界市場規模は29億8,000万ドル(メーカー出荷金額ベース)と予測する。 10% 電源半導体の世界市場 1兆円@2010年 年 1兆円@ WW voltage regulator revenue forecast($ forecast($M) ($M) Reference Controller/Supervisor Battery Chrager Battery Monitor ACAC-DC DCDC-DC LowLow-voltage LDOs HighHigh-current Linear $12,000 $10,000 CAGR=6.7% ('08⇒ '08⇒'11) '11) Millions of Dollars $1,402 $497 $78 $215 $1,237 $6,000 $61 $208 $61 $208 $1,702 $1,586 $1,479 $86 $229 $880 $232 コントローラ( コントローラ(CPU電源 CPU電源) 電源) バッテリーチャージャ $98 $245 $88 $510 $1,256 高精度電圧源 $603 $570 $530 $8,000 $620 $1,011 バッテリー保護 バッテリー保護 ACAC-DC全般 DC全般 $936 $812 $736 $670 DCDC-DC全般 DC全般 $4,311 $3,826 $3,949 $3,192 $4,000 $2,872 $2,594 $2,000 $877 $962 $1,042 $1,057 $1,098 低電圧LDO 低電圧LDO $1,589 $1,669 $1,715 $1,649 $1,653 $1,744 大電流リニア 大電流リニアReg. リニアReg. 2006 2007 2008 2009 2010 2011 $793 $0 出典:Gartner 出典: 広義のパワーデバイス市場は2兆円超え パワー・マネージメント半導体の2008年市場規模 出所:南川 明=アイサプライ・ジャパン 1. パワーデバイスは中小企業。 (サムスンは参入しがたい?) 2. シリコンに注力 シリコンに注力すべき 注力すべき理由 すべき理由が 理由が多くある。 くある。 3. TCAD(既存物理モデル)でまだ大きな改善、発見の余地が ある。 GTOの電流集中 IEGT CoolMOS 電流集中 TCADの3次元の本格利用 2012年予測(IMSresearch) 2012年予測(IMSresearch) 2010年時点での予測(Yole Development) 2012年時点での予測(Yole Development) SiC : 930M$ GaN:1,900M$ Total:2,830M$ (8%) SiC素子のコストは2020年でも現在の1/2 High ENDにしか使えない? 出所: 出所 APEC 2013 Industry Session 1.4.2 IMSresearch シリコンはまだ進化している!! SiCとの競合技術 MOSFET NEXFET 30V CoolMOS 600V Diode QSPEED 600V 回路技術で対応する! エアコン CoolMOS リカバリーアシスト シリコン限界への挑戦 Theoretical Silicon limit of Switching Speed : Stored Charge (Qstr ) tf = Drain Current (I D ) MOSFETのターンオフ Qstr tf = ID Mirror period = Q gd IG plateau VG VD ID 2 Ploss = Ron I D + V A I D Qgd IG 1 f + QstrV A f 3 Major loss Ron I D 2 1 1 2 + QstrV A f ≥ 2 R on Q str I D V A f 3 3 New FOM MOSFETのターンオフ 理想限界: tf Qstr tf = ID Mirror period = 2 Ploss = Ron I D + V A I D Qgd IG Q gd IG VG =0 VD ID 1 f + QstrV A f 3 1 1 2 Ron I D Low + Impedance QstrV A f ≥gate 2 drive R on Q is str a key Itechnology D VA f 3 to3supply a large gate current 2 New FOM to eliminate mirror period. MOSFETのターンオフ New FOM = RonQstr 理想限界: Qstr tf = ID Mirror period = 2 Ploss = Ron I D + V A I D = Ron I D 2 Qgd IG Q gd IG VVGG =0 VVDD ID ID 1 f + QstrV A f 3 1 1 2 + QstrV A f ≥ 2 R onQ str I D V A f 3 3 New FOM tf Effect of low impedance gate drive Low impedance gate drive Rdriver=0.4Ω 95 Rg+Rdriver=0.4 Ω Efficiency (%) 90 Conventional Rg+Rdriver=3.66 Ω Rdriver=3.7Ω Ω 85 80 Vin:12V, Vg:5V,Vout:1.3V,fsw:1MHz 75 0 5 10 15 20 Iout(A) 25 30 35 Predicted Silicon Limit Efficiency Low impedance gate drive Rdriver=0.4Ω Si Limit (Ron=5mΩmm2) 95 MOSFET Ron Improvement Rg+Rdriver=0.4 Ω Efficiency (%) 90 Conventional Rg+Rdriver=3.66 Ω Ω Rdriver=3.7Ω 85 80 Vin:12V, Vg:5V,Vout:1.3V,fsw:1MHz 75 0 5 10 15 20 Iout(A) 25 30 35 @2008 GaN 1. 1 Predicted Silicon Limit Efficiency Low impedance gate drive Rdriver=0.4Ω Si Limit (Ron=5mΩmm2) 95 MOSFET Ron Improvement Rg+Rdriver=0.4 Ω Efficiency (%) 90 GaN 1.1 Conventional Rg+Rdriver=3.66 Ω Ω Rdriver=3.7Ω Competitor B 85 80 Vin:12V, Vg:5V,Vout:1.3V,fsw:1MHz 75 0 5 10 15 20 Iout(A) 25 30 35 1e6 New FOM: RonQstr for high speed switching S 1e3 1e4 S O M SJ 1e2 L i S M EPC GaN C Si it m Li aN G it m i L 1 it im iC S O GaN FET 30V MOSFET 10 RonQstr [mΩnC] 1e5 T B IG 10 EPC: Efficient Power Conversion 100 1kV Breakdown Voltage [V] 10kV Trend of High Speed MOSFET Figure of Merit: RonQgd 180 VG=4.5V, VDD=24V R DS(ON) Q gd ( m Ω ・ nC ) 160 140 UMOS II 120 100 High Speed UMOS III 80 Ultra-High Speed 60 UMOS IV 40 Ultra-High Speed UMOS V UMOS VI 20 UMOS VII UMOS VIII 2009 2013 0 1999 2001 2003 2005 2007 Super Junction Field Plate (Split Gate) 横型MOSFET Loechelt, etc. On Semiconductor ISPSD’12 横型MOSFET&積層パッケージで特性改善 5mm× ×6mm SON 出所 TI Web http://ednjapan.com/edn/articles/1204/18/news015.html NEXFET(25V) RonQgd=5.25mΩnC RonQg =29.4mΩnC Trench(30V) RonQgd=7.31mΩnC RonQg =34 mΩnC IEDM’09 p.145 eGaN(40V) RonQgd=7 mΩnC RonQg=33.6mΩnC APEC2014 Industry Session IS2-4-3 APEC2014 Industry Session IS2-4-3 600V CoolMOS改善の動向 東芝Web SiC並のシリコン高速ダイオード QSPEED 出所: 出所 http://www.powerint.com/qspeed 世界にインバータ搭載エアコンを広めることで、 世界中の省エネに貢献しています。 回路技術でSi素子特性を改善 CoolMOSをエアコンに用いる!! 排ガス規制がHEV化を進める! 欧州 2015年 2021年 120g/km以下 95g/km以下 米国 2025年 54.5マイル/ガロン(23km/L) SiCのHEV適用効果 ● 燃費向上10% ● PCU 1/5に縮小 ● 高温動作(冷却系改良) (デンソー論文より引用) 周辺Si製ICの冷却は? SiO2ゲート信頼性 (デンソー論文より引用) シリコンでも高速動作&高温動作は可能 SOI CMOSは400℃で動作可能 SOI パワーICは200℃で動作可能 1200V IGBTは200℃動作可能 しかし、誰も追求していない! 最大の問題点は: ・周辺技術がついて来ない ・市場が小さい ・素子の値段が高くできない APEC 2014 Industry Session http://www.apec-conf.org/about/previous-years/apec-2014/industry-session-presentations/ K.Shenai APEC2014 Industry Session K.Shenai APEC2014 Industry Session K.Shenai APEC2014 Industry Session ROHM APEC2014 Industry Session IS2-4-6 ROHM APEC2014 Industry Session IS2-4-6 野村総研2013年 Si-IGBT 2014年4月30日 三菱電機 世界で初めて、小田急電鉄株式会社1000形車両に搭載 直流1500V架線対応「フルSiC適用VVVFインバーター装置」採用のお知らせ 営業運転で省エネ効果を確認してまいります。 小田急電鉄株式会社1000形車両 フルSiC適用インバーター装置(参考品) 採用により期待される効果 1.主回路システム全体での最適化により最大約 主回路システム全体での最適化により最大約36%の省エネ 主回路システム全体での最適化により最大約 %の省エネ o・高効率全閉方式の主電動機と本装置を組み合わせた主回路システム全体で省エネ最適化 o・従来車両と比べ、定員乗車時で約20%、満員乗車時には最大約36%の消費電力改善 2.小型・軽量化による車体改造費の大幅削減 小型・軽量化による車体改造費の大幅削減 o・既存主回路システム比で外形寸法・質量ともに80%以上削減 o・車両への取り付けの自由度が向上した結果、車体改造工事費用が削減 Si-IGBTの可能性 Current Density (A/cm2) 2.2µ m 40nm Mesa width 0.5µm 2000 600V IGBT 100 nm 200 nm Forward voltage can be greatly improved by reducing mesa width. 1000 . nv o C 500 0 0 1 2 Forward Voltage (V) 3 Theoretical limit of IGBT IGBTs can still be greatly improved in future 1000.0 T T B B G II i i S S 10.0 G Ideal IGBT Limit 0.1 10 100 Lim it Ga N Lim it im it SJ 1.0 ● ● Si C MO S lim i t ● Si L RonA (mΩ Ωcm2) 100.0 SSJ JMOS Si IGBT Si SJ -MOS SiC MOS GaN HEMT 1000 Breakdown Voltage (V) 10000 Silicon Limit Analysis based on TCAD for 1200V IGBT Mesa width 1200V IGBT 1.5 Current 800A/cm 2 Voltage 1.4 600V On-state Voltage (V) ISaturation= 800A/cm2 Conditions: Si thickness=100µm Current density= 150A/cm2 Temp.=150C Turn-off loss is fixed at 120µJ/A 1.3 1.2 1.1 Large ISat case 1 0.9 0.8 0.7 0 0.1 0.2 0.3 0.4 Mesa width (µm) 0.5 0.6 汎用モジュールでは 汎用モジュールでは負荷短絡保護回路 モジュールでは負荷短絡保護回路がキー 負荷短絡保護回路がキー技術 がキー技術! 技術! 定電圧の の実用化が 定電圧のIGBTの 実用化が可能 1200V IGBT operating current density 500 Operating current density 600V applied HEV both side cooling Dynamic Avalanche 100 t a r e Op cu g in d t n rre e ity s n 1200V applied 6th generation 50 1980 1985 1990 1995 Year 2000 2005 2010 2015 30cm CMOS Fab for Power Devices 低コスト化が狙える! 2020年でも90%は依然シリコン!! 電力の需給バランスは逼迫し、地球温暖化 からエネルギー消費抑制 省エネ、再生可能エネルギーがキー技術 低コスト省エネ(インバータ)家電、EV/HEVが重要 IGBTは2極化(SiCと低コストSi)、 Si-IGBT需要が増大 石油製品の用途別需要量 (エネルギー白書2004) 日経エレクトロニクス 年5月 月2日号 日号) 日経エレクトロニクス2011年 エレクトロニクス 日号) 1. パワーデバイスは中小企業。 (サムスンは参入しがたい?) 2. シリコンに注力すべき理由が多くある。 3. TCAD TCAD( (既存物理モデル 既存物理モデル) モデル)でまだ大 でまだ大きな改善 きな改善、 改善、発見の 発見の余地 がある。 がある。 GTOの電流集中 IEGT CoolMOS 電流集中 TCADの3次元の本格利用 3. TCAD活用(既存物理モデル)で大きな改善、発見の 余地がある。宝は既にあるのにまだ見つけていないだ け!!! ■過去の大きな発見も既存物理モデルの世界 IEGT CoolMOS ■パワーデバイスは既存モデルでほとんど説明可能 電流集中 GTO破壊 IGBT破壊 ■ TCADの3次元の本格利用が可能になり活用範囲が拡大 1970年代 シミュレータは本当に役に立つのか? シミュレータで設計したとあるが実際は真実でない 二次元デバイスシミュレータ開発へ Device Simulator TONADDE II 1. 1-dim. version of TONADDE developed in 1980. 2. First version of 2-dim. TONADDE developed in 1982. 3. 2nd version with external circuit option developed in 1991. 4. Graphic user interface: input data generator, 3-D graphic post processor, developed in 1993. ’70年代の最先端デバイスGTO 電流集中!! 最大遮断電流をあげるにはゲインを上げるべきという固定観念 IATO = Gmax・Ig ∝ Rb V J1 ρ SPB 最大遮断電流をあげるにはゲインを上げるべきという固定観念 IATO = Gmax・Ig ∝ Rb V J1 ρ SPB ばらつきをプロット IATO 200A 100A ゲートカソード耐圧/Pベースシート抵抗 VJ1 ρ SPB 0V 0 6 O T G 12 00 VG TO V1 GTOの破壊現象 シミュレーションによる再現 ISPSD 1992 GTOの電流集中 in 1984 1982 IEDM 偶然出会ったBaligaの論文 の論文!!! 偶然出会った の論文 スイッチング時間:10µ スイッチング時間: µsec 新規性はあるが、 「何故このような遅い素子を発表するのか」 「良くこのような素子を実証して見せたものだ」という驚き ラッチアップを防ぐことは不可能に近いと考えられていた!!! ラッチアップを防ぐことは不可能に近いと考えられていた ところが Non-Latch-Up IGBTができてしまう。 実現したNon-Latch-up IGBTは 思った以上に良い素性を持っていた!!! ノンラッチアップIGBT最初の論文 IEDM Late News 1984年12月 1990年 Injection Enhanced IGBT(IE効果)の発見 デバイスシミュレータでの予測 (特許出願1991、発表1993) 正孔電流 Jp = qDp ∂p ∂x キャリアの勾配で 正孔を蓄積 サイリスタのキャリア分布を実現 Kitagawa, Kitagawa, 1993 IEEE IEDM Tech. Digest, pp.679 IEGT realizes thyristor-like I-V characteristics! 4.5kV IEGT developed in 2000 High Voltage ICs in SOI Combination of SOI and trenches 1. How to realize a high voltage by applying a large share of the voltage across the buried oxide 2. How to realize a large current device on a thin SOI 20µmのシリコン層で500V → トレンチ分離可能 SOI device breakdown voltage vs. SOI thickness Breakdown voltage is limited by MOS Diode anode p+ cathode n+ Substrate 1D MOS diode 1 Chip Inverter IC Evolution 500V,1A(1991) 8.4 x 7 V groove, 6µ µm 12V BiCMOS LIGBT 1A @3V 500V,1A(1994) 7 x 4.2 Trench Isolation, 1.5µ µm 5V BiCMOS Multi-ch LIGBT 1.2A @3V 500V, 1A(2001) 6.6 x 4.1 Trench Isolation, 2µ µm 30V CMOS Analog PWM, Multi-ch LIGBT 1.0A @3V BiCDパワーICの歴史 •DMOS Ron Improvement •’80年代 Smart Power Vertical DMOS Drain CMOS Bip BiCD技術 横型DMOS + 制御回路 npn Lateral DMOS •Smart Power Concept •BCD Technology 0.6µ µm design rule S G p+ n+ p D n- n+ n+ C n p n n p-well n+ n-epi n-MOS p-MOS C BE n+ p+ n-epi n+ p n+ SGD p-well n n p-well p+ p+ S GD p p n-well n+ Lateral DMOS vs. Vertical DMOS LDMOS: Rds( (on) ) is simply reduced depending on design rule Up Drain vertical DMOS LDMOS 従来のLDMOS 問題点 従来の ----Low on-state breakdown voltage 2.0 Gate p+ n+ p n+ p-well n-Resurf p-epitaxial n+ Drain Current Density [ ×104 A/cm2 ] Drain electrically connected 15nm Source VG = 5 V VBV = 13.9 V RON = 15.7mΩmm2 1.0 VG = 3 V VG=1 V 0.0 0 10 20 30 Drain Voltage [V] VG = 0 V VBV = 30.2 V Adaptive Resurf 1998 ISPSD ----- Improvement of on-state breakdown voltage Source Drain Gate LOCOS n+ p p+ n+ Resurf p-well p-epi n+ Conventional Improved LDMOS with Adaptive Resurf Adaptive Resurf ----- Improvement of on-state breakdown voltage Source Drain Gate LOCOS n+ p p+ n+ Resurf p-well p-epi n+ Conventional Improved LDMOS with Adaptive Resurf MOSFET-mode IGBT アノードの注入効率を極限まで下げたら!!! 電子電流が主体で流れるIGBT:高速動作 電子電流Jn/正孔電流Jp > 移動度の比 µp < γ= J n + J p µn + µ p Jp vh 高電界 γ< ve + vh アノード効率γ p-base n-buffer 負荷短絡時Nベースの空間電荷Q Q =qND+ q(p – n) = qND + J{γ/vh - (1- γ )/ve} Jp Jn γ = p= n = qv e J qv h Jp v Define JC=qND/{(1- γ)/ve - γ/vh} when γ < h ve + vh J < JC: Q>0 正電荷 J = JC : Q=0 ゼロ! J> JC : Q<0 負電荷! J=Jc p-base J >Jc Electric field n-buffer Effective junction Electric field Carrier density Positive n-buff p-base JC qND Current density → 0 JC Negative Charge density @n-base N-base net charge density becomes negative Q = qND + J*(γγ/vh + (γγ -1)/ve) VBD SOA can be calculated by analytical model 2.0E+05 1E+17 1800A/cm 2 1.5E+05 1E+16 1200 720 1.0E+05 1E+15 Electron Hole 5.0E+04 1E+14 Electric Field 360 0.0E+00 1E+13 0 20 40 60 80 Distance (µm) 100 Simulated 120 Carrier Con cen tratio n (cm Electric F ield (V/cm ) -3 ) VCC=600V 1800A/cm2 1.5 e5 1200 720 1.0 e5 360 0.5 e5 0.0 e0 0 100 Distance (µ µm) Analytical Calculated SOA with parameter γ JC=qND/((1- γ)/ve - γ/vh) ; γ = vh = 0.45 ve + vh 0.4 J=Jc 1000 0.3 γ γ =0.47 0.2 100 10 0 500 1000 Voltage [V] 1500 2000 n-buff p-base Maximum Current density 10000 負荷短絡耐量とアノード側の注入効率 Current density (A/cm2) 5000 600V 4000 3000 2000 Theory 1000 Experiment 0 0.25 0.3 γ 0.35 0.4 定常状態の計算では壊れない!!! 何故、MOSFET-mode IGBTは負荷短絡耐量が低いか? 仮説:アノード側高電解で電流集中が起きる? 8セルと1/2Cellでの比較 拡大 1360K ½ Cell 多Cell ½ Cell 1.最大温度の増大 2.ピーク電流の増大 3.ラッチアップ 電流が流れJCを超えると高電界が裏面に移動!! 1e-7 step us 0.4us 0.7 電界 (V/cm) 0. 5u 0.6 s us X=0.6um 0.3us 0.2us 0.1us 0us アノード側の高電界でアノード側が高温になる!! 7us 8u s 温度(K) 6us 5us 4us 3us 電界(V/cm) 新しい現象 7us以降でアノード側の高電界が解消!! 3us 4us 6us 5us 7us 8us アノード側の温度上昇でPエミッタのγが上昇? VG=15V 多セル(8Cell)での計算 X=80um チャネル電子電流は均一に流れるが 電流のフィラメントが発生 t=0.5us t=0.7us t=0.6us Y=110umでの電子電流密度 電子電流密度(A/cm2) 3 4 5 6 8 7 9 10 1us 2us Y=110umでの電子電流 電界 (V/cm) 3usで高温になり、アノード側の高電界が解消 1us 2 3 8 10 9 7 6 5 4 電界1usごと 3usまでは裏面温度が上昇、その後、 高温領域はNベース内部に移動 温度(K) 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1us Temp 1usごと 温度上昇の推移 t=1us 2us 3us 4us t=5us 6us 7us 8us P-baseが が高温で 高温で Intrinsicになり になり Latch-up 拡大 多Cell t=9us 10us γ と γMOS の関係が電荷の正負を決める!! Q = qN D + p − n = qN D + ( γ vh + γ −1 vh + ve (γ − γ MOS ) J = qN D + vh ve γ MOS µp vh = = µ p + µ n vh + ve ve )J 高電界解消は γMOS の低下で引き起こされる!! アノード側 高電界解消 2次元では160umピッチで集中が起きる! 3次元では更に大きな温度上昇! 電流集中が点で起きれば大きな温度上昇! TCAD活用での問題点とポイント 現状のTCAD Toolでの解析は困難 仮説を立てる! ↓ 検証・解析 Clue END
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