偏光測定装置総合カタログ
高速、 高精度偏光計 Stokes Polarimeter Dual PEM 型ポラリメーター 型ポラリメーター Dual PEM Dual PEM stokes polarimeter Stokes Polarimeter 最先端のストークスメーター Dual PEM型ポラリメーターは、 標準仕様の装置は、 波長 光の偏光状態をあらわすス 400 ～ 700nm の波長から トークスパラメーターを測定す 測定波長を選択して使用し る装置です。 4 つのストークス ます。 モノクロメーターを追 パラメーターを最大 100Hz で 加することで波長を切り替え 測定し、直線偏光、楕円偏光、 ながらの測定にも対応してい 偏光度(DOP) を計算します。 ポラリメーター光学系 ま す。 ま た、 VUV ～ MIR 本装置は高精度偏光測定に使われる光弾性変調器 領域に対応したモデルにも (PEM) を 2 台搭載しています。 PEM によって入射光の偏 対応可能です。 光状態が高速に変調され、 その結果得られる検出信号を 光ファイバー測定用光学 ロックインアンプで解析、 ソフトウェア上に測定結果を出力し 系、 マッピングステージなど ます。 この測定原理によって、 ストークスパラメーター感 のハードウェア、 さらに用途に合わせたソフトウェア改良など 度は 0.0005 という従来装置にはない感度を実現していま のご要望にも対応可能ですので、 す。 ご相談ください。 主な用途は光学素子や偏波面保存ファイバーの特性評 価、 レーザー品質評価、 天文学用途が挙げられます。 19 特注仕様に対応 光ファイバー測定用装置 Dual PEM 型ポラリメーター Stokes Polarimeter 高速、 高精度偏光計 測定例 He-Ne レーザーの偏光 ランダム偏光の He-Ne レーザーは一般的には偏光特性がないレーザーだと思われています。 しかし、 実際に偏光状態 を測定した下図を見ると、 光強度だけではなく、 直線偏光の方位、 楕円偏光化、 また偏光度 (DOP) も常に変化すること がわかります。 この結果を見ると、 ランダム偏光の He-Ne レーザーは偏光測定用の光源として適していないことがわかります。 対策とし てレーザーの直後に偏光子を置くと完全な直線偏光にできます。 しかし、 レーザーの偏光変化によって偏光子を透過す る光も増減してしまうため、 測定用の光源としては不向きであることには変わりありません。 上から光強度、水平偏光成分、45 度偏光成分、 円偏光成分、 偏光度を表しています。 時間が経過するにしたがって、 偏光状態が変化 型ポラリメーター Dual PEM ■ランダム偏光のHe-Ne レーザー測定結果 する速度が遅くなっています。 Stokes Polarimeter 仕様 ■ソフトウェア画面 偏光変化をグラフで表示します。 DC は光強度、 Qn は 0 度直線偏光成分、 Un は 45 度直線偏光成分、 Vn は円偏光成分を表すストークスパラメーターです。 左下はポアンカレ球表示で、 偏光状態を球表面の軌跡で表します。 波長範囲 可視標準装置 400ｎm～700ｎm 紫外～可視 180ｎm～ 850ｎm 800ｎm～ 2.5μｍ 測定パラメーター 近赤外～中赤外 近赤外ファイバー用 1.5μｍ～15μｍ 1310ｎm、 1550ｎm 1％ 精度 感度 （標準） 可視～近赤外 0.0005 0.005 ストークスベクトル （SOP,DOP,DOLP,DOCP） ※仕様は変更されることがあります 20
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