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捉えて離さない、止まらない。だから驚異のスループット。
画像測定機
Catalog No.14017
■特長
●従来比5倍以上*の高スループット測定が可能です。 * 弊社サンプルワークによる
●ステージを停止せずに画像を捉え続ける新方式を採用しました。
を搭載。
オートフォーカス動作に
●ワーク表面のうねり・そりに追従して連続的にフォーカスするTAF（トラッキングオートフォーカス）
伴う無駄時間をカットします。
■仕様
TAF搭載 QV STREAM PLUSシリーズの仕様
コード№
符号
■本体部
測定範囲（X軸ⅹY軸ⅹZ軸）
■性能
X・Y軸（画像）
測定精度E1 Z軸（画像）
測定精度E2 XY平面（画像）
最小表示量
TAF Z軸分解能
精度保証温度
■主要装置・機能
画像検出方式
垂直落射照明
透過照明
照明装置
プログラム制御リング照明
観察装置
363-176
QV-X302T1S-D
363-186
QV-X404T1S-D
363-196
QV-X606T1S-D
300×200×200mm
400×400×250mm
600×650×250mm
（1.5＋3L/1000）µm 注1
（1.5＋4L/1000）µm 注1
（2＋4L/1000）µm 注1
0.1µm
0.3µm
20±1℃
B&W CCDカメラ
カラー LED
青色 LED
カラー LED（4分割）
プログラム制御パワーターレット
（1×、2×、6×）
注1：当社検査方法による。精度保証光学倍率：2.5×対物レンズ（QV-HR2.5×又はQV-SL2.5×）＋2×チューブレンズ ■トラッキングオートフォーカス
（TAF） ■TAF（トラッキングオートフォーカス）
対物レンズ同軸方式(ナイフエッジ法)
測定物の高さ変化に合わせて、連続的にフォーカ オートフォーカス原理
適用対物レンズ
QV-HR1x QV-SL1x QV-HR2.5x QV-SL2.5x QV-5x
スする機能です。表面のうねり・そり
（Z軸高さ方向）
6.3mm
6.3mm
1mm
1mm
0.25mm
注2
に自動追従することで、測定スループットの向上を トラッキングレンジ
(±3.15mm) (±3.15mm) (±0.5 mm) (±0.5 mm) (±0.125mm)
実現します。また、手動測定においても、面倒なピ スポット径注3
5.2µm
8.0µm
2.1µm
3.1µm
1.5µm
半導体レーザ（ピーク波長690nm）
ント合わせが減ることで、測定作業者の負担が軽 レーザ光源
レーザ出力
0.9mW
減されます。
レーザ安全性
Class2（JIS C6802:2011,EN/IEC60825-1:2007）準拠
注）変位の連続測定は行えません。
注2：ワークの表面性状や反射率によって異なります。
注3：設計値です。
Z軸自動追従
同焦点
同焦点
測定物の表面
●お問い合せは、下記最寄りの営業課までお申し付けください。
弊社商品は外国為替及び外国貿易法に基づき、
日本
政府の輸出許可の取得を必要とする場合があります。
製品の輸出や技術情報を非居住者に提供する場合は
最寄りの営業課へご相談ください。
本社 川崎市高津区坂戸 1-20-1 〒 213-8533
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南関東営業 1 課 (044)813-1611 南関東営業 2 課 (046)226-1020 甲信営業課 (0266)53-6414
東海営業 1 課 (0566)98-7070 東海営業 2 課 (052)741-0382
関西営業 1 課 (06)6613-8801 関西営業 2 課 (077)552-9408
中四国営業課 (082)427-1161 西部営業課 (092)411-2911
http://www.mitutoyo.co.jp
お求めは当店で̶
●外観・仕様などは商品改良のために、一部変更することがありますのでご了承ください。
●本カタログに掲載されている価格、仕様は2014年 4月現在のものです。
053 1404(1)E-(CH)PR123