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＊操作講習会も随時
開催しております。
日時：4 月 24 日（木）10 時～12 時、13 時～16 時
場所：地域共同研究センター1 階 汎用実験室
電界放射型走査電子顕微鏡
日本電子（株）製 JSM-6700（EDS
JED-2200 付）
電子を利用して試料表層から発生する二次電子により，試料
表面の形態，微細構造を観察できます。
フィールドエミッション型で電子線を極細く絞ることが
できるため，熱電子型よりも高倍率まで観察できます。
分解能：1.0nm（加速電圧 15kV 時）
加速電圧：0.5～ 30kV
倍率：×25～650,000
日時：5 月 1 日（木）10 時～12 時、13 時～16 時
場所：富山市新産業支援センター1 階 機器分析室
集束イオンビーム加工観察装置
（株）日立ハイテクノロジーズ製
FB-2100
イオンビームで X-Y の二次元方向に走査を行い，試料を深
さ方向にエッチングし，TEM 用の切片試料，SEM 用の断面試
料を作製することができます。
加速電圧：10～40kV 可変 (5kV ステップ)
最大ビーム電流：60nA 以上
最大ビーム電流密度：50A／cm2 以上
日時：5 月 8 日（木）10 時～12 時、13 時～16 時
場所：富山市新産業支援センター1 階 機器分析室
TG-DTA
（株）リガク製
ThermoPlus2
脱水・分解・酸化・還元などの化学変化と昇華・蒸発・吸脱
着など質量変化を伴う物理変化の検出に利用できます。
事前連絡不要です。
測定温度範囲：室温～ 1,350℃
該当日時のご都合よう時間に、装置のほうへお越しください。
測定雰囲気：大気、窒素ガス
＊観察・分析をご希望の試料がある場合は、事前にご連絡をお願いします。
事前連絡不要です。
上記の時間帯で、ご都合のよい時間に装置のほうへお越しください。
対象機器の分析相談にも応じます。
＊観察・分析をご希望の試料をお持ちの場合は、事前に連絡をお願いします。
問合せ先・連絡先：機器分析施設 平田 暁子
（内線：6715 e-mail：[email protected]）