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粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置
ゼータサイザーナノシリーズ
お問合
スペク
マル
URL
神戸本
東京支
ZETASIZER NANO Series
英国本
Performance, Simplicity, Versatility
0
Malve
Spect
リスのロ
ゴは、M
詳しい
Performance, Simplicity, Versatility
希薄系から濃厚系、有機溶媒まで幅広いサンプル
の粒子径、ゼータ電位、分子量測定が1台で可能
散乱光の得られにくいシングルナノ粒子を高感度に検出、また粒子の
わずかな動きを正確に検出します。
コロイド
セラミックス
カーボン
電池材料
金属
触媒
シリカ
CMP
スラリー
インク
無機ゾル
板状
サンプル
高分子
染料
パルプ
繊維
フィルター
ウルトラ
ファイン
バブル
その他
無機材料
食品
ベシクル
ミセル
エマルション
コーティング
膜
リポソーム
デンドリマー
DDS 材料
医薬品
化粧品
タンパク質
細胞
生体膜
DNA
糖
アミノ酸
その他
生体高分子
No.1のグローバルシェアと圧倒的な論文引用数
グローバルで7,000台以上の実績 があり、国内外で多くのお客様に
ご使用いただいています。
＊
引用文献数は34,000件 を超えています。
＊
ラボでもオフィスでも使えるフリーのソフトウェア
制限なしでソフトウェアをインストールできるので、ラボ以外の場所から
でも測定データを確認できます。
マルバーンの豊富な測定知識がソフトウェアにデータベース化されてい
るので、測定結果に対してのアドバイス機能も搭載しています。
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www.malvern.jp
＊2013年6月現在
粒子径測定
一次粒子・凝集体の評価
独自のNIBS ® 技術により、希釈や溶媒の置換不要で粒子径を測定
電子顕微鏡で見えないコーティングの厚みや
修飾の広がり方を評価
ブラウン運動はコーティング部分も伴うため、修飾部分を含んだ
粒子径の評価が可能
熱安定性の判断・製品保存の加速試験
温度トレンド試験により変性温度を算出
POINT
ナノ粒子のサイズ測定に最適な動的光散乱法(DLS法)
ブラウン運動の速 度（拡散係数）から、スト
ークスアインシュタイン方程式を用いて粒子
径を計算します。粒子からの散乱光がブラウ
ン運動によりゆらぎを生じることから、散乱
光 量の時間的な変化を求めることにより拡
散係 数を算出します。散乱 光 の 経 時 的 変 化
は自己相関関数に変化され、キュムラント法
やNNLS法等の計算手法で粒子径や粒度分
布に展開します。
散乱光を
取得
（粒子モデル図）
粒子
（60nmポリスチレンラテックス）
自己相関関数に変換
ストークスアイン
シュタイン方程式
から計算
POINT
高濃度・低濃度サンプルに対応するための高感度NIBS ® 技術（Non-Invasive Back Scatter）
●サンプル濃 度にあわせて焦 点位置と光学
条 件を自動で設 定。多重散乱の心 配があ
る高濃 度 サンプルにも対応 。低 濃 度 サン
プルも高感度で測定可能
●非接触のためコンタミネーションを排除
●ppmオーダーの希薄系から数10％の濃　厚系サンプルまで対応可能
低濃度サンプル
低濃度サンプル
（散乱強度が高い）
（散乱強度が高い）
セル
高濃度サンプル
高濃度サンプル
（散乱強度が低い）
（散乱強度が低い）
セル
セル
セル
レンズ レンズ
レンズ レンズ
レーザー
レーザー
レーザー
レーザー
ディティクター
ディティクター
ディティクター
ディティクター
サンプルセルの中心の散乱光を取得。
サンプルセルの中心の散乱光を取得。
セル壁面のノイズを除去。
セル壁面のノイズを除去。
セル壁面近くの散乱光を取得。
セル壁面近くの散乱光を取得。
多重 多重
散乱の影響を軽減。
散乱の影響を軽減。
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Performance, Simplicity, Versatility
ゼータ電位測定
分散安定性の評価
ゼータ電位から分散状態を予測
電気泳動に影響する電気浸透流を考慮した測定
M3-PALS ® 技術により、高精度なデータを短時間で算出
生体高分子などの表面電位を予測
解析ソフトウェアを用いて電気泳動移動度から計算
POINT
電気泳動光散乱法（Electrophoretic Light Scattering）
液中に分散している粒子の電気泳動移動度*
は、その粒子のゼータ電位に依存します。
ゼータサイザーナノシリーズでは、 粒子に
レーザー光を照射し、その散乱光周波数変化
から電気泳動移動度を求め、ヘンリーの式を
用いてゼータ電位を算出します。
ゼータ電位は、粒子の静電的な反発力の指標
として、分散の安定性評価や粒子の表面状態
を簡便に推測する方法として広く用いられて
います。
*電気泳動の速度
電気的二重層
Stern層 拡散層
すべり面
粒子
表面電位
ゼータ電位
mV
粒子表面からの距離
POINT
高精度測定を可能にしたマルバーンの独自技術
キャピラリ表面荷電
M3-PALS®
キャピラリ壁近辺 ＝ 負極方向の流れ
●M3技術
●
キャピラリ中央
正極方向の流れ
−電極
静止面
（電解液速度＝0）
＝
電場の切り替え速度を落とし、ゼータ電
位測定の分解能を向上させて分布を表示
＋電極
●
電場をすばやく切り替えることで、電気
浸透流を排除した正確なゼータ電位測定
●PALS技術
●
わずかな電気泳動移動度でも正確に検出
有 機 溶 媒サンプル、高塩 濃 度 溶 媒中の
サンプルも対応
高塩濃度サンプル向けシーケンス
● 熱 の 発 生を 最小 限にし、サンプル へ のダ
メージを軽減
● 生体高分 子 等デリケートなサンプルにも
対応
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電気浸透流の影響を除去
電気泳動による
粒子の移動
Phase (rad)
●
散 乱 光 の周 波 数シフトを 位 相 差として
取得
SFR
（電場をゆっくり切り替え）
FFR
（電場を細かく切り替え）
Time (s)
電気泳動移動度をヘンリーの式から
ゼータ電位に
Total Counts
●
Zeta Potential (mV)
分子量測定
分子量マーカーを使わない絶対分子量測定
溶媒の置換を必要としないのでネイティブに近い状態での評価が可能
第二ビリアル係数（A2）を算出
デバイプロットの傾きを第二ビリアル係数とし、溶媒と分子の親和性、
結晶化のし易さを予測
粒子径測定からも分子量を算出可能
サンプリングのスクリーニングに
POINT
静的光散乱法(SLS法)
分子が溶媒中に分散しているとき、散乱光量
はその分子の分子量と濃度に依存します。そ
こで種々の濃度での散乱光量を計測し、デバ
イプロットを作成して分子量と第二ビリアル
係数を求めます。
8E-5
KC/R (mo1/g)
散乱光量
分子量
0%NaCl
9E-5
サンプル濃度
2%NaCl
4%NaCl
A2 ＞ 0.8×10−4
[ Too soluble]
5%NaCl
Ⅰ
7E-5
Ⅱ
6E-5
5E-5
A2 ＜ −0.8×10−4
[ Too insoluble]
4E-5
0
0.002
Ⅲ
0.004 0.006 0.008
[Lysozyme](g/mL)
0.01
各溶媒中のリゾチームのデバイプロット
Ⅰ：溶媒の親和性が高い状態 → 安定して分散し続ける
Ⅱ：溶媒の親和性があまり高くない状態 → 結晶化が起こりやすい
Ⅲ：溶媒の親和性が低い状態 → 結晶化せず凝集を起こす
タンパク質解析機能（カリキュレータ）
粒子 径・ゼー タ電 位・分 子 量 の 測 定 結 果 の
組み合わせ計算が可能
●粒子径と分 子量から　→ 分子の形状予測
●粒子径から　→ 粒子濃度、粒子個数を予測
●ゼータ電位と分 子量から　→ 粒子間距離を予測
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Performance, Simplicity, Versatility
様々なサンプルに対応、幅広いセルラインナップ
高濃度サンプルや有機溶媒サンプルといったサンプル状態と測定項目に合わせて様々なセルを
ご用意しました。
キャピラリーセル
品番：DTS1070
測定対象：ゼータ電位
粒子径
12mm 角ガラスセル
品番：PCS1115
測定対象：粒子径
分子量
12mm角ポリスチレンセル
品番：DTS0012
測定対象：粒子径
分子量
有機溶媒対応ユニバーサル
ディップセル
品番：ZEN1002
測定対象：ゼータ電位
小容量石英バッチセル
（12µL）
品番：ZEN2112
測定対象：粒子径
分子量
小容量・高濃度ゼータ電位セル
品番：ZEN1010
測定対象：ゼータ電位
粒子径
小容量
プラスチックセル
（40µL）
品番：ZEN0040
測定対象：粒子径
分子量
pHや添加材料のトレンド測定を自動化
自動滴定装置MPT-2［オプション］
滴定液の数
最大3種類（同時接続）
最小サンプル量
3mL（粒子径フローセル時）
5.5mL（pHプローブ、キャピラリーセルおよび攪拌機を使用時）
pHプローブ
液体充填ガラス複合電極
pH範囲
1～13
電源
100～240V、50～60Hz、45VA
180ｍｍ× 400mm×260mm（幅×奥行×高さ）
（注）高さ370mm（pHプローブ付）
寸法
6kg
Zeta Potential (mV)
重量
Isoelectric Titration Graph
60
pH 4.37
40
pHによりゼータ電位が変化する様子
や等電点などがわかります。
20
0
−20
ゼータ電位
−40
等電点
2
3
4
pH
5
6
7
MPT-2によるコーヒーフレッシュのゼータ電位測定結果
固体・膜表面のゼータ電位測定
平板ゼータ電位測定ユニット［オプション］
●フィルタや医療材料の表面ゼータ電位測定
●サンプルコーティングの評価
Apparent Zeta Potential (mV)
●フィルムの表面加工条件の検討
サンプルサイズ
4ｍｍ×7ｍｍ×1.5ｍｍ
（幅×長さ×厚さ）
対応pH
3～11
対応塩濃度
～50mS
トレーサ粒子
既定なし
Apparent Zeta Potential vs Displacement
20
サンプル表面から離れることで
10
変化していくゼータ電位を測定
0
し、最後にトレーサ粒子のゼータ
−10
電位を差し引いてサンプル表面
4mm
のゼータ電位を算出します。
−20
サンプルフォルダ
−30
−40
0
100
200
300
Surface Displacement（μm）
400
平板ゼータ電位測定ユニットによるPTFEプレートの測定結果
6
7mm
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500
既存のクロマトグラフィー装置に接続し連続測定
フローモード測定機能［オプション］
クロマトグラフィーで分離したサンプルを連
続的に測定
●お手持ちのクロマトグラフィーに接続可能
●UV・RI信号と同期させ、結果をよりわかり
やすく
動的光散乱法による低粘度材料の粘弾性測定
マイクロレオロジー測定機能［オプション］
プローブ粒子のブラウン運動より粘弾性パラ
＊
メータ、η ,Ｇ’, Ｇ’’を算出します。
●壊れやすい構造体の評価
●微量、12µlからサンプル評価
●低粘度サンプルのレオロジー評価
粘性体（溶媒）
通常のブラウン運動
粘弾性体
（プロテイン・ポリマー）
粘弾性により変化したブラウン運動
40年以上の歴史を支える
確かな信頼性あるサービスとサポート
スペクトリス株式会社マルバーン事業部は、
1 9 6 7 年 に 創 業した 英 国 本 社 M a l v e r n
Instrumentsの日本事業部です。
粒 度 分 布 、粒 子 形 状 、ゼ ータ電 位 、分 子 量 、
流動性、粘弾性などの特性評価を行う科学分析
装置の老舗メーカーです。
電話1本で対応可能なヘルプデスクの設置、
定期的なユーザー研修の開催、ホームページ
からダウンロード可能な技術資料や測定事例、
ウェブ上で行うウェブセミナーなど、装置ご購入
前からご購入いただいた後まで、あらゆる面で
お客様をサポートいたします。
0120-57-17-14
http: //w w w. ma lve r n .j p /
年間保守契約
ダウンロード可能な
技術資料や
測定事例集
性能保証のための
標準粒子の提供
ユーザー研修
セミナー
ヘルプデスク
デモンストレーション
サンプル測定
7
仕様
ゼータサイザーナノシリーズ
ゼータサイザーナノZSP
ゼータサイザーナノZS
ゼータサイザーナノZS90
測定項目
粒子径，ゼータ電位，
分子量，第二ビリアル係数
粒子径，ゼータ電位，
分子量，第二ビリアル係数
粒子径，ゼータ電位，
分子量，第二ビリアル係数
レーザー出力
10mW，633nm（HeNe）
4mW，633nm（HeNe）
4mW、633nm（HeNe）
粒子径
ゼータ電位
分子量
ZSP
○
○
○
ZS
○
○
S
○
ディテクタ
APD
APD
APD
コリレータ
25ns - 8000s，最大4000チャネル
25ns - 8000s，最大4000チャネル
25ns-8000s、最大4000チャネル
測定原理
動的光散乱法
動的光散乱法
動的光散乱法
ZS90
○
測定範囲
0.3nm - 10µm *
0.3nm - 10µm *
0.3nm - 5µm *
S90
○
最小サンプル量
12µL（小容量セル使用時）
12µL（小容量セル使用時）
20µL（小容量セル使用時）
最大感度（タンパク質として）
0.1mg/mL 15kDa protein
0.1mg/mL 15kDa protein
10mg/mL 15kDa protein
最小濃度
0.1ppm
0.1ppm
最大濃度
40% w/v *
40% w/v *
ディテクタ角度
13°
+173°
13°
+173°
13°
＋90°
測定原理
電気泳動光散乱法
電気泳動光散乱法
電気泳動光散乱法
測定感度
1mg/mL　15kDa protein
10mg/mL　66kDa protein
10mg/mL 66kDa protein
測定範囲（電気泳動移動度として）
> +/− 20µ.cm/V.s
> +/− 20µ.cm/V.s
>+/-20µ.cm/V.s
最大濃度
40% w/v*
40% w/v*
40% w/v*
最小サンプル量
20µL（拡散隔壁法利用時）
20µL（拡散隔壁法利用時）
20µL（拡散隔壁法利用時）
Z
粒子径測定
ー
ー
ゼータ電位測定
分子量測定
測定原理
静的光散乱法
静的光散乱法
静的光散乱法
測定範囲（光散乱）
980Da - 2×107Da *
980Da - 2×107Da *
9,800Da-2×107Da*
ソフトウェア
SOP
（標準操作手順）対応
オプション
○
○
○
21CFR Part11
21CFR Part11
21CFR Part11
マイクロレオロジー測定機能　マイクロレオロジー測定機能　タンパク質解析機能（カリキュレータ） タンパク質解析機能（カリキュレータ）
ー
アクセサリ（オプション）
自動滴定装置（MPT-2）
○
○
高出力レーザ対応 (50mW, 532nm)
○
○
○
高温オプション対応（120℃）
○
○
緒元
温度制御
0ºC - 90ºC +/− 0.1ºC **
結露制御
乾燥空気（窒素）
パージによる
寸法（w×d×h）
320mm×600mm×260mm
重量
19kg
電源
AC100 - 240V，50/60Hz，消費電力100W，1A
運転環境
温度：10 - 35℃，湿度：10 - 90%
Windows7 Professional 32ビットもしくは64ビット
（ノートパソコン利用可）
オペレーションシステムズ
* サンプルに依存
** 0.1℃（25℃），0.2℃（0℃），0.5℃（90℃）
取扱店
お問合せ先
スペクトリス株式会社
マルバーン事業部
事業本部
東京営業所
URL http://www.malvern.jp/
〒650-0047 兵庫県神戸市中央区港島南町5-5-2
神戸国際ビジネスセンター北館511
電話：078-306-3806
FAX：078-306-3807
●オフィス
〒101-0048 東京都千代田区神田司町2-6司町ビル5F
電話：03-5207-3461
FAX：03-3258-1160
●ラボ
〒101-0048 東京都千代田区神田司町2-2-7 パークサイド１
電話：03-5207-3461
FAX：03-3258-1160
英国本社
Malvern Instruments Limited
Grovewood Road, Malvern Worcestershire, WR14 1XZ,UK
電話：+44（0）1684 892456
FAX：+44
（0）1684 892789
こ な
いーな
いーよ
0120-57-17-14
Malvern Instrumentsは、精密計装・制御機器メーカーSpectris plcのグループ会社です。
スペクトリスおよびスペクトリスのロゴは、Spectris plcの商標です。Malvern、緑の山のロゴ、
ZetasizerはMalvern Instrumentsが所有する国際商標です。
外観および仕様は改良のため、
予告なく変更することがありますのでご了承ください。
特許取得技術
Non-Invasive Back Scatter(NIBS)
EP0884580,DE19725211,US6016195,JP2911877
Multi-frequency electrophoresis(M3-PALS)
UK2361772,EP1154266,US09/843339,JP2001-134510
MRK1839J-01
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○
○
○