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エレクトロニクス
G a I n N A s エピ成長における熱処理が
光学特性へ与える影響
＊
石　塚　貴　司・土　井　秀　之・嶋　津　充
高　岸　成　典・山　口　章・柳　沼　隆　太
中　山　正　昭
Annealing Ambient Effects on Optical Properties in the GaInNAs Epitaxial Growth ─ by Takashi Ishizuka, Hideyuki
Doi, Mitsuru Shimazu, Shigenori Takagishi, Akira Yamaguchi, Ryuta Yaginuma and Masaaki Nakayama ─
Sumitomo Electric Industries have studies annealing ambient effects on the optical properties of a GaInNAs/GaAs
single quantum well by utilizing photoluminescence (PL) spectroscopy and photoreflectance (PR) spectroscopy to
investigate carrier localization and intrinsic band-edge transitions, respectively. By the systematic analysis of PL and
PR spectra, the authors have revealed that the annealing conditions in the GaInNAs epitaxial growth greatly effected
improvements in the optical properties. In the study, two annealing ambient sequences were examined:
tertiarybutylarsine and hydrogen (H2) in the annealing process and H2 in the cooling process. The PL efficiency at
room temperature was markedly improved in the H2 ambient annealing process. The authors found from systematic
results of PL and PR spectra that the PL efficiency at room temperature is in connection with the Stokes shift at 10 K,
which is a measure of carrier localization, and the broadening factor of the band-edge transitions.
Keywords: GaInNAs, annealing, photo luminescence, photoreflectance, carrier localization
1.　緒　言
光情報通信での低消費電力化は、温暖化対策にもつなが
しかしながら、これまで熱処理温度依存性についてはいく
る重要な課題の一つである。その観点から、波長 1.3 〜
、8）
、熱処理条件に関する詳
つかの研究がなされているが（7）（
1.55 ミクロンの領域での光通信用半導体レーザ製品の活性
細な光学特性の評価に関する研究は少ない。今回は、熱処
層材料では、GaInNAs/GaAs 系が注目されている。この
理雰囲気を変えた異なる 2 つの熱処理条件で熱処理を行っ
材料系では、伝導帯でのキャリア電子の障壁を大きくとる
た GaInNAs 単一量子井戸構造において、分光学的観点か
ことができ、発振閾値電流や発光効率などのデバイス特性
ら測定および評価を行い、熱処理条件と GaInNAs 量子井
の温度依存性が小さく、デバイス製品での冷却素子を不要
戸構造の光学特性の一つであるキャリアの局在状態との関
とでき、低消費電力化を実現できることが理由の一つであ
係を明らかにし、GaInNAs 量子井戸構造の光学特性の大
、 2）
。また、GaInNAs は GaAs 基板上に結晶成長可能
る（1）（
幅な向上を得ることができたので、それについて報告する。
なことから長波長帯面発光レーザ（VCSEL）の活性層の材
料としても有望視される材料である。VCSEL は 1mA 未満
の非常に小さな閾値電流での動作が可能なレーザ光源とし
て製品化が進められており、GaInNAs を活性層に用いた
2.　GaInNAs における発光特性と分光評価
GaInNAs などの窒化物 III-V 混晶半導体では、窒素混晶
VCSEL は、素子周辺の駆動回路も含めてシステム全体と
化によるキャリアもしくは励起子の局在化が原因とされる
して低消費電力化を実現できる半導体レーザとして、技術
発光特性の観測が報告されている（9）〜（11）。このような発光特
開発や実用化が近年になって急速に進んでいる（3）。
性は、窒素混晶化によりポテンシャル揺らぎが生じて形成
この GaInNAs のエピタキシャル成長においては、熱処
された局在状態にキャリアまたは励起子が捕らえられるこ
理を行うことにより、その結晶性が大きく変化することが
とに起因するものであると考えられている。GaInNAs に
多数報告されており（4）〜（6）、エピタキシャル成長での熱処理
おいては、In や As と比較して電子親和力の大きな窒素が
は、結晶性を向上させる目的とした、非常に重要なプロセ
存在するため、空間的に濃度揺らぎが生じることにより、
スと位置づけられている。GaInNAs に対する熱処理は発
図 1 で模式的に示すような不均一なポテンシャルが生じる
光強度を増加させるが、その一方で、発光波長のブルーシ
ことが知られている。このような不均一なポテンシャルで
フト（発光波長が短波長側へシフトする現象）を生じさせる
は、バンド端エネルギーより低エネルギー側に、局在状態
ことが知られており、GaInNAs 量子井戸構造を持つ光デ
、10）
。この
（バンドがテイルを引いている状態）が生じる（9）（
バイスを作製するにあたって、熱処理工程はレーザデバイ
窒素混晶化によるキャリアもしくは励起子の局在化は、長
スでの動作特性を左右する、重要なプロセス工程である。
波長領域での GaInNAs の発光特性、ひいてはレーザダイ
2 0 0 9 年 7 月・ S E I テ クニ カ ル レ ビ ュ ー ・ 第 1 7 5 号 −（ 133 ）−
エネルギー
（＝「TBAs」／（「TEGa」＋「TMIn」））は 5 とし、
「UDMHy」
エネルギー
伝導帯
／（「UDMHy」＋「TBAs」）比は 0.98 とした。試料として、
基板上に厚さ 200nm のアンドープ GaAs バッファー層、
厚 さ 7nm の ア ン ド ー プ GaInNAs 井 戸 層 、 お よ び 厚 さ
発光
As
局在状態
N
価電子帯
100nm のアンドープ GaAs キャップ層を順次成長した。
エピタキシャル成長の後、図 2 で示した通り、試料とし
て二種類の異なるシーケンス（A）およびシーケンス（B）で
熱処理を行った。シーケンス（A）では、試料は水素をキャ
状態密度
リアガスとして TBAs を供給し、（TBAs＋水素）とした雰
囲気で 10 分間熱処理した後、水素雰囲気に切替えて室温
図 1　ランダムポテンシャルと局在状態の模式図。
まで降温を行った。一方、シーケンス（B）では、水素のみ
の雰囲気で 10 分間熱処理した後、そのまま水素雰囲気で
室温まで降温を行った。熱処理温度は 620 ℃から 720 ℃ま
オードとした場合のデバイス特性に大きな影響を与えてい
ると考えられ、局在状態や発光のメカニズムに関する窒素
で条件を変えながら熱処理を行った。熱処理した試料につ
いて、PR 分光法および PL 分光法による測定を行った。
濃度依存性や結晶成長や作製プロセスの条件依存性を解明
し、それに応じた作製プロセスを確立することが、GaIn
NAs を活性層材料に用いたレーザダイオードの実用化に向
、12）
（
、13）
。
けての大きな鍵になると言える（9）（
今回の評価では、光変調反射分光法（Photorefrectance；
以下、PR 分光法と示す）、および発光分光法（Photolumi-
温度
Ta
雰囲気
(TBAs+H2)
nescence ；以下、PL 分光法と示す）、を用いた。試料は
雰囲気
温度可変クライオスタット（温度制御範囲： 10K 〜室温）
に取り付けて測定を行った。PR 分光法は一種の電場変調
反射（Electroreflectance ； ER）分光法と言えることか
ら、PR 分光法を用いることによって、電子-正孔バンド間
遷移、あるいは励起子遷移を高感度に測定することが可能
である（13）。
H2
RT
時刻
（a）シーケンス（A）
温度
Ta
H2
雰囲気
PL 分光法では、半導体結晶に cw 励起光を照射すること
H2
によって生成した電子と正孔が再結合するときの発光を測
雰囲気
定する。この再結合過程は半導体結晶内に存在する結晶欠
陥や不純物の影響を受けやすいため、結晶性の評価法とし
て用いられる。今回の評価では、励起光の強度が小さい弱
励起条件における PL ピークエネルギーと PR 分光法で求め
るバンド端遷移エネルギーとの差（ストークスシフトと呼
ぶ）を調べることにより、局在状態（バンドテイル状態）
の評価に用いた（13）。
RT
時刻
（b）シーケンス（B）
図 2　GaInNAs/GaAs 単一量子井戸構造の熱処理シーケンス。
（a）熱処理の雰囲気が
（TBAs＋水素）、
（b）熱処理の雰囲気が水素。
いずれも室温までの降温の雰囲気は水素である。
4.　結果および考察
3.　実　験
評価する試料として、（100）面から〈110〉方向に 2 度
の傾斜をさせた Si ドープ GaAs 基板上に GaInNAs/GaAs
（In 組成＝ 0.35, 窒素組成＝ 0.005）単一量子井戸構造を
MOVPE 成長により作製した。Ga、In、As および N の原
料として、それぞれトリエチルガリウム（TEGa）、トリメチ
ル イン ジ ウ ム（ TMIn）、 タ ー シャリー ブ チ ル アル シ ン
（TBAs）、ジメチルヒドラジン（UDMHy）を用いた。成
長温度は 540 ℃、成長速度は 1.0 ミクロン／ hr とした。
成長時の圧力は 10 kPa とした。結晶成長での As ／III 比
−（ 134 ）−
GaInNAs エピ成長における熱処理が光学特性へ与える影響
4 − 1　室温での PL 発光特性の熱処理温度依存性
図3
に GaInNAs/GaAs 単一量子井戸構造の室温における PL
ピーク波長と PL ピーク強度の熱処理温度依存性を示す。
シーケンス（A）で得られた結果は◆と実線で、シーケン
ス（B）で得られた結果は▲と破線で示した。熱処理温度
を増加させるにしたがって、PL ピーク波長が短波長化して
いることがわかった。これは、いわゆるバンドギャップエ
ネルギー増加によるブルーシフトを示している。二種類の
熱処理のシーケンスの間でブルーシフトの量の差は小さい。
一方、二種類の熱処理のシーケンスの間で PL ピーク強
1250
as-grown
20
1200
15
1150
10
1100
5
1050
0
500
550
600
650
Eg=1.036 (eV)
Г=51.4 (meV)
Ta=620˚C
Eg=1.061 (eV)
Г=42.1 (meV)
Ta=670˚C
Eg=1.099 (eV)
Г=35.3 (meV)
1
1.1 1.2 1.3 1.4 1.5 1.6
Photon Energy (eV)
GaAs
Eg=1.030 (eV)
Г=51.8 (meV)
Ta=620˚C
Eg=1.081 (eV)
Г=27.6 (meV)
Ta=670˚C
Eg=1.099 (eV)
Г=25.3 (meV)
Ta=720˚C
Ta=720˚C
0.9
10K
as-grown
Eg=1.111 (eV)
Г=28.8 (meV)
Eg=1.114 (eV)
Г=36.1 (meV)
Annealing temperature (˚C)
図 3　GaInNAs/GaAs 単一量子井戸構造の室温での PL 発光特性の熱処
理温度依存性。破線で囲まれ as-grown と示したデータは熱処理
前の試料の特性を示す。
GaInNAs/GaAs SQW
Sequence (B)
GaAs
as-grown
1000
750
700
10K
PR Intensity (arb. units)
シーケンス(B)
GaInNAs/GaAs SQW
Sequence (A)
PR Intensity (arb. units)
25
(b)
(a)
1300
シーケンス(A)
PL peak wavelength (nm)
PL peak intensity (arb. units)
30
0.9
1
1.1 1.2 1.3 1.4 1.5 1.6
Photon Energy (eV)
図 4　熱処理した GaInNAs/GaAs 単一量子井戸構造の10K における PR
スペクトルの熱処理温度依存性。（a）シーケンス（A）による熱処
による熱処理。
理。（b）シーケンス（B）
度の変化は大きく異なった。シーケンス（A）では、熱処
理していない状態（as-grown）から熱処理温度を 620 ℃
とした条件化で PL ピーク強度が最大になり、さらに熱処
ニング因子である。また n j は、結合状態密度の次元性によ
理温度をさせると PL ピーク強度が減少する結果となった。
り決まる値で、この量子井戸構造では 3 となる。ここでは、
一方、シーケンス（B）では、as-grown から熱処理温度を
C j、ϕ j、E g j 、Γj、をパラメータとしてフィッティングを行
増加させると PL ピーク強度が増加し、670 ℃とした条件
い、それらの値を求めた。図中矢印で示した位置はこの解
化で PL ピーク強度が最大になった。さらに熱処理温度を
析によって求めたバンド端遷移エネルギー Eg に対応して
させると PL ピーク強度が減少する結果となった。熱処理
いる。その結果、いずれのシーケンスにおいても、熱処理
温度を 720 ℃とした条件下で PL ピーク強度が劣化するの
温度を増加させるにしたがって、バンド端遷移エネルギー
は、GaInNAs/GaAs 量子井戸構造において In と Ga が相
Eg が増加した。この結果は、熱処理におけるバンドギャッ
互拡散を起こし、量子井戸の結晶性が劣化するためと考え
プエネルギーの増加によるブルーシフトを示唆している。
られる 。着目すべき点は、熱処理温度 670 ℃の条件下で
ブロードニング因子Γは、GaInNAs/GaAs 量子井戸構造の
の PL ピーク強度である。水素雰囲気で熱処理（シーケン
光学特性を考える上で重要なパラメータの一つであるが、
（4）
ス（A））した試料の PL ピーク強度が、（TBAs＋水素）雰
それぞれの熱処理のシーケンスにおいて熱処理条件に依存
囲気で熱処理（シーケンス（B））した試料の PL ピーク強
している結果を示しており、この後示す PL 励起強度依存
度の約 3 倍となり、発光効率が大きく向上することを示し
性と熱処理条件との関係の結果と合せて議論する。
図 5 は、二種類の熱処理のシーケンスにおいて、670 ℃
ている。
4 −2
PR スペクトルと PL 励起強度依存性に対する熱処
図 4 は、二種類の熱処理のシーケンスに
理条件の影響
の熱処理温度条件での GaInNAs/GaAs 単一量子井戸構造
の 10 K における PR スペクトルと PL スペクトルの励起強
おいて、それぞれ as-grown と 3 つの熱処理温度条件での
度依存性をそれぞれ示している。ここで、最大励起光強度
GaInNAs/GaAs 単一量子井戸構造の 10K における PR スペ
I0 は 10 W/cm2 である。これらの図において実線で示され
クトルを示している。各試料において、1.52eV 付近で観
た曲線は 3 階微分形状解析によって PR 信号の測定データ
測 さ れ て い る PR 信 号 は 、 基 板 、 バ ッ フ ァ ー 層 お よ び
をフィッティングしたものである。PL スペクトルの励起強
キャップ層の GaAs によるものである。また、各試料の矢
度依存性についても、定量的に検討した。ここでは、各試
印の位置に、それぞれの GaInNAs における最低エネル
料について最も弱い励起条件下（0.005I 0）における PL
ギーのバンド間遷移に対応する PR を観測した。定量的に
ピークエネルギーと、長い破線で示した PR スペクトルか
調べるために、バンド端の PR 信号に対して式（1）を基に
ら見積もったバンド端遷移エネルギーとの差（ストークス
した 3 階微分形状解析 を行った。
シフト）ΔEs により、局在状態の深さを見積もった。その
（14）
∆R /R = Re ∑ C j exp (iϕ j)( E – E g, j + iΓ j) – n j
[
j
]
結果、670 ℃における熱処理条件において、シーケンス（A）
（1）
によって熱処理した場合はストークスシフトが 19 meV で
あったのに対し、シーケンス（B）によって熱処理した場
ここで、C j は信号の振幅、ϕ j は位相因子、E g はバンド端
合はストークスシフトが 10 meV であった。両者の雰囲気
遷移エネルギー、Γは状態密度の乱れを反映するブロード
での熱処理条件において、バンド端遷移エネルギー Eg の
2 0 0 9 年 7 月・ S E I テ クニ カ ル レ ビ ュ ー ・ 第 1 7 5 号 −（ 135 ）−
GaInNAs/GaAs SQW
Sequence (A) Ta=670˚C
GaInNAs/GaAs SQW
Sequence (B) Ta=670˚C
10K
exp.
fit.
PR
PL
I0=10 W/cm2
Intensity (arb.units)
PR
Intensity (arb. units)
55
(b)
I0
0.5I0
0.1I0
0.05I0
0.01I0
PL
I0=10 W/cm2
50
exp.
fit.
45
I0
0.5I0
0.1I0
0.05I0
0.005I0
0.0005I0
0.0005I0
0.0001I0
19meV
シーケンス(B)
35
30
550
1.12 1.14
1.04 1.06 1.08
Photon Energy (eV)
1.1
1.12 1.14
Photon Energy (eV)
図 5　温度 Ta ＝ 670 ℃で熱処理した GaInNAs/GaAs 単一量子井戸構造
の 10K における PR スペクトルと PL スペクトルの励起強度依存
性。（a）シーケンス（A）による熱処理。（b）シーケンス（B）によ
る熱処理。
600
650
30
熱処理したストークスシフトの値よりも明らかに小さく
なっている。この結果は、水素雰囲気で熱処理することに
よって、キャリアの局在状態を低減できることを意味して
いる。
図 6 〜図 8 は、二種類の熱処理のシーケンスにおいて、
GaInNAs/GaAs 単一量子井戸構造の 10K における PR スペ
クトルから得られたバンド端遷移エネルギー Eg とブロー
ドニング因子Γ、および PL の励起光強度依存性から得られ
たストークスシフトΔEs の熱処理温度依存性を示している。
Stokes shift (meV)
のストークスシフトΔEs の値は（TBAs＋水素）雰囲気で
750
図 7　GaInNAs/GaAs 単一量子井戸構造の10K におけるブロードニン
グ因子Γの熱処理温度依存性。破線で囲まれ as-grown と示した
データは熱処理前の試料の特性を示す。
as-grown
シーケンス(A)
25
値は同等であるのに対して、水素雰囲気で熱処理した場合
700
Annealing temperature (˚C)
10meV
1.1
シーケンス(A)
40
20
500
0.001I0
0.001I0
as-grown
25
0.01I0
0.005I0
1.04 1.06 1.08
10K
Г factor (meV)
(a)
シーケンス(B)
20
15
10
5
500
550
600
650
700
750
Annealing temperature (˚C)
図 8　GaInNAs/GaAs 単一量子井戸構造の10K におけるストークスシ
フトΔEs の熱処理温度依存性。破線で囲まれ as-grown と示した
データは熱処理前の試料の特性を示す。
水素雰囲気で熱処理した場合の Eg の値と（TBAs＋水素）
雰囲気で熱処理した場合の Eg の値との差は小さい。これ
に対して、ΓとΔEs の値については、すべての熱処理温度
において、水素雰囲気で熱処理した場合で（TBAs＋水素）
雰囲気で熱処理した場合よりも明らかに改善した結果と
なった。すなわち、この結果は、水素雰囲気で熱処理する
ことによって、バンド端での乱れとキャリアの局在を劇的
1.12
に低減できることを意味している。図 3 で示した通り、
シーケンス(A)
Eg (eV)
1.1
シーケンス（B）において熱処理した場合に、室温におけ
シーケンス(B)
る発光効率がより大きく増加する。この結果は、水素雰囲
気で熱処理することによる、バンド端での乱れとキャリア
1.08
の局在の低減に関係していると言える。結果として、これ
1.06
らの分光学的評価の結果は、GaInNAs/GaAs 量子井戸構
造における光学特性の改善を行うには、水素雰囲気で熱処
1.04
理することが有効であることを示唆している。
as-grown
as-grown
1.02
500
550
600
650
700
750
Annealing temperature (˚C)
図 6　GaInNAs/GaAs 単一量子井戸構造の10K におけるバンド端遷移
エネルギー Eg の熱処理温度依存性。破線で囲まれ as-grown と
示したデータは熱処理前の試料の特性を示す。
−（ 136 ）−
GaInNAs エピ成長における熱処理が光学特性へ与える影響
ここで二つの観点から、この熱処理の効果が発生した要
因について考察する。一つは GaInNAs 結晶中の N-H 結合
状態の変化で、もう一つは GaInNAs 結晶の相分離である。
MOVPE 法で成長された GaInNAs 結晶は、主に原料に起
因する N-H 結合を持つことが知られているが、この N-H
結合が熱処理によって結晶中で非発光欠陥の要因となり得
る、不安定な結合である N-H という状態から、比較的安定
な結合である N-H2 という状態に変化することが報告され
ている（8）。TBAs が含まれた熱処理雰囲気中では、TBAs が
熱分解することによって、活性状態の水素が生成されるこ
とから、この活性状態の水素が N-H 結合の変化に影響を与
えている可能性が考えられるが、これだけでは我々の実験
結果を結論づけられない。一方で、GaInNAs 量子井戸構
造は、窒素が混晶しにくい特性によって結晶組成に不均一
性が生じ、相分離しやすい傾向を持つ。この組成の不均一
性は、キャリアの局在を生じるバンド端の乱れ（図 1）に
つながり、非発光欠陥の生成による光学特性の劣化を生じ
（15）
。GaInNAs に対する熱処理は、
る要因になると考えられる
結晶中の元素が移動することによって窒素原子の周りの元
素を再配列させ、組成の均一化を促進させることによって、
キャリアの局在を低減し、光学特性を向上させると考えら
、15）
。我々が示した結果は、GaInNAs 結晶中の
れている（6）（
N-H 結合の変化と組成の均一性向上という、両者の熱処理
の効果が、雰囲気を水素とすることによって、より促進さ
れることを示唆している。
（4）T. Ishizuka, T. Yamada, T. Katsuyama, S. Takagishi, M. Murata, J.
Hashimoto, and A. Ishida, Proc. 2003 International Conference on
InP and Related Material, Santa Barbara, CA, USA, pp.273（2003）
（5）T. Ishizuka, H. Doi, M. Shimazu, S. Takagishi, R. Yaginuma, M.
Nakayama, J. Crystal. Growth, 310, pp.4786（2008）
（6）K. Volz, J. Koch, B. Kunert, I. Nemeth, W. Stolz, J. Crystal. Growth, 298,
pp.126（2007）
（7）P. J. Klar, H. Grüning, J. Koch, S. Schäfer, K. Volz, W. Stolz, W.
Heimbrodt, Phys. Rev. B 64, pp. 121203（2001）
（8）S. Kurtz, J. Webb, L. Gedvilas, D. Friedman, J. Geisz, J. Olson, R. King,
D. Joslin, N. Karam, Appl. Phys. Lett, 78, pp. 748（2001）
（9）M. Nakayama, K. Tokuoka, K. Nomura, T. Yamada, A. Moto and S.
Takagishi, Phys. Stat. Sol. (b), 240, pp. 352（2003）
（10）I. A. Buyanova, W. M. Chen, G. Pozina, J. P. Bergman, B. Monemar, H.
P. Xin and C. W. Tu, Appl. Phys. Let., 75, pp. 501（1999）
（11）S. Shirakata, M. Kondow and T. Kitatani, Appl. Phys. Let., 79, pp.54
（2001）
（12）T. Ishizuka, H. Doi, T. Katsuyama, J. Hashimoto, M. Nakayama, J.
Crystal Growth, 298, pp. 116（2007）
（13）K. Nomura, T. Yamada, Y. Iguchi, S. Takagishi, M. Nakayama, J.
Lumin, 112, pp.146（2005）
（14）D. E. Aspnes, Surf. Sci. 37, pp.418（1973）
（15）M. Takahashi, A. Moto, S. Tanaka, T. Tanabe, S. Takagishi, K. Karatani,
M. Nakayama, K. Matsuda, T. Saiki.: J. Crystal. Growth, 221, pp. 461
（2000）
5.　結　言
MOVPE 成長により作製した GaInNAs/GaAs 単一量子
井戸構造に対する熱処理の雰囲気依存性について、分光学
的観点から光学特性の評価を行った。水素雰囲気で熱処理
した場合のバンド端遷移エネルギーの値と（TBAs＋水素）
雰囲気で熱処理した場合のバンド端遷移エネルギーの値と
の差は小さい。これに対して、ブロードニング因子とス
トークスシフトの値については、すべての熱処理温度にお
いて、水素雰囲気で熱処理した場合で（TBAs＋水素）雰
囲気で熱処理した場合よりも明らかに改善した結果となっ
た。これらの結果は、水素雰囲気で熱処理することによっ
て、バンド端での乱れとキャリアの局在を劇的に低減でき
ることを意味しており、水素雰囲気で熱処理した場合に、
室温における発光効率がより大きく増加した結果と強く関
係していると考えられる。結果として、GaInNAs/GaAs
執　筆　者 ---------------------------------------------------------------------------------------------------------------石 塚 貴 司＊：半導体技術研究所　結晶技術研究部
主査
発光素子や受光素子などの
化合物半導体のエピ成長の
開発に従事
土 井 秀 之 ：新エネルギー・産業技術総合開発機構　主席
嶋 津 充 ：新エネルギー・産業技術総合開発機構　主幹
高 岸 成 典 ：研究統轄部　主幹　工学博士
山 口 章 ：シニアスペシャリスト
半導体技術研究所　コア技術研究部 部長　博士（工学）
柳 沼 隆 太 ：大阪市立大学大学院　工学研究科　電子情報系専攻
応用物理学教室　光物性工学分野
中 山 正 昭 ：大阪市立大学大学院　工学研究科　電子情報系専攻
応用物理学教室　光物性工学分野　教授
­------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------＊主執筆者
量子井戸構造における光学特性の改善を行うには、水素雰
囲気で熱処理することが有効であると考えられる。
参　考　文　献
（1）M. Kondow, K. Uomi, A. Niwa, T. Kitatani, S. Watahiki and Y. Yazawa,
Jpn. J. Appl. Phys., vol.35, pp.1273（1996）
（2）S. Sato and S. Satoh, IEEE Photon. Technol. Lett, vol.11, pp.1560
（1999）
（3）大西裕、嵯峨宣弘、小山健二、土井秀之、石塚貴司、山田隆史、藤井
康祐、森大樹、橋本順一、嶋津充、山口章、勝山造、「SEI テクニカル
レビュー 第 174 号」、pp59（2009 年 1 月）
2 0 0 9 年 7 月・ S E I テ クニ カ ル レ ビ ュ ー ・ 第 1 7 5 号 −（ 137 ）−