ウェーハ張り合わせにより製作した 波面補正用

日本機械学会誌 2014. 5 Vol. 117 No. 1146
333
ウェーハ張り合わせにより製作した
波面補正用デフォーマブルミラー
地上からの天体観測では,地球の大
気によって天体の像が乱されてしま
う.これを補正する技術・補償光学を
用いると,地上からでも大気圏外から
の観測と同様に,望遠鏡の限界性能の
解像度を得ることができる.補償光学
系は光波面の揺らぎ分布を測る波面セ
ンサ,波面揺らぎをうち消すデフォー
マブルミラー(Deformable Mirror:
DM)と,DM の変形を制御する制御
系からなる.ミラーの変形により歪ん
だ波面を平らに補正する DM は補償
光学系の重要な要素である.
近年,マイクロ電気機械システム
(MEMS)技術により,低コストで多
素 子 DM( 以 下,MEMS-DM) の 開
発が盛んになっている.MEMS-DM
は高い光利用効率,連続位相補正など
良い特性を持つにもかかわらず,スト
ローク(最大変形量)の不足(< 5μm)
が問題になっている.次世代天体望遠
鏡(30 メートル口径)の補償光学系
に使われる DM には 20μm のストロー
クが必要であることが光学シミュレー
ションにより示されている.
このため,
大ストローク連続メンブレンデフォー
マブルミラーを開発し,次世代天体望
遠鏡補償光学系に適用することが期待
されている.
2. 大ストローク DM
平行平板型静電アクチュエータの場
合,理論上変位が電極ギャップの 1/3
を超えると可動電極が固定電極に吸い
付いてしまうプルイン現象が発生す
る.したがって,大ストロークを実現
するために,ミラーメンブレンと電極
の間のギャップを大きくする必要があ
る.そこで,バイモルフスプリング
(bimorph spring)を用いた大ストロー
ク DM を考案した.
図 1 に大ストローク DM の構造を
示す(1).厚さ 2μm のシリコンミラー
メ ン ブ レ ン(silicon mirror membrane)はバイモルフスプリングの先
端に接合されている.バイモルフスプ
リングは Si と HfO2(酸化ハフニウム)
の 2 層の構造で,HfO2 膜応力により
面外に曲がる.これによりミラーが持
ち上げられ,大きい電極ギャップを実
現できる.Si と HfO2 の厚さはそれぞ
れ 2μm,0.2μm である.電極に電圧
印加することで静電力が発生し,ミ
ラーを変形させることができる.
3. 製作方法
ウェーハの張り合わせは複雑なデバイ
スのパッケージング,ヘテロ接合と呼
ばれる異種高機能材料の接合などに多
く応用され,MEMS デバイス製作・
量産において重要なプロセスである.
図 1 に提案した DM では 2μm 厚さの
Si メンブレンを電極基板に転写する
必要があるため,ウェーハの張り合わ
せプロセスを採用した.具体的には,
金とシリコンの共晶化反応を利用し,
1μm 厚さの金を片方のウェーハの表
面に堆積し,もう片方のウェーハと熱
圧着により張り合わせる.プロセス温
度は 400℃程度である.このデバイス
では,バイモルフスプリングとミラー
メンブレンの接合に金とシリコンの共
晶化反応を利用した.接合パッドは直
径 35μm の円状パッドで,接合面積
は極めて小さいため,接合の高い強度
が要求される.金とシリコンの共晶化
反応で合金が生成され,高い強度が実
現できた.
4. 製作結果と静特性
図 2(a)の電子顕微鏡写真に示す
DM は 860μm × 860μm のサイズの
ミラーメンブレンとそれに覆われる 4
個の電極と 9 個のバイモルフスプリン
グからなる.図 2(b)に DM の断面
形状を示すように,ミラーと基板の間
のギャップはおおよそ 20μm である.
また,残留応力によりミラーは凸形状
になり,全体のピークバレー値がおお
よそ 2μm である.
16 電極の DM の静的駆動実験結果
を図 3 に示す.図 3 は一つの電極に
80V を印加し,白色干渉計で測定した
表 面 形 状 で あ る. ま た,110V で 7.6
μm の変位が得られた.既存の連続メ
ンブレン DM に比べて大きいストロー
クが得られた.
5. おわりに
従来,ギャップを作成するときに用
いられてきた犠牲層エッチングの場
合,ギャップの大きさは犠牲層の厚さ
に制限されている(通常< 10μm).
しかし,ウェーハの張り合わせの製作
方法により 20μm のギャップを実現
できた.また,この製作方法により大
きい自立 Si メンブレンを基板に転写
できるので,DM の製作だけでなく,
大ストロークアクチュエータ,波長選
択スイッチなどの製作にも利用が期待
される.
本研究は学振特別研究員奨励費の支
援を受けた.
(原稿受付 2014 年 2 月 14 日)
〔呉 同 東北大学〕
─ 87 ─
(a)
10μm 35μm
2μm 0.2μm
40μm
8μm
200μm
ミラーメンプレン
バイモルフ
スプリング
電極
SiO2
シリコン基板
(b)
ミラーメンブレン
接合パッド
シリコン基板
電極
バイモルフスプリング
図 1 提案する DM の構造
(a)
ミラーメンプレン
バイモルフスプリング 400μm
(b)
25
高さ(μm)
1. はじめに
20
15
10
5
0
0
200
400 600 800 1 000
位置(μm)
図 2 (a)電子顕微鏡画像(b)ミラー
断面プロファイル
図 3 一 つの電極に 80V を印加時のミ
ラーの表面形状
●文 献
( 1 )Wu, T., Sasaki, T., Akiyama, M. and Hane,
K., Large-scale Membrane Transfer Process:Its Application to Single-crystal-silicon Continuous Membrane Deformable
Mirror, J. Micromech. Microeng. , 23
(2013)
,
125003.