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産総研の依頼試験(一般)の停止中リスト（2014年5月15日）
No
試験・校正の種
類
2 幾何学量
20 高周波
独立行政法人 産業技術総合研究所
試験・校正の細目
試験・校正の項目
真直度
高周波雑音
20 高周波
電磁界強度
導波管 WR42 周波数：18, 19, 20, 21, 22, 23, 24, 25, 26, 26.5 GHz 雑音温度：77 K 以上 12 000 K 以下
(ENR 16 dB相当）
電界プローブ
Rバンド（1.70 GHz, 2.45 GHz, 2.60 GHz）
20 高周波
電界プローブ
Lバンド（1.15 GHz, 1.5 GHz, 1.7 GHz）
21 測光量・放射量 分光応答度
真空紫外域3 波長140 nm以上200 nm以下2 nm毎
校正対象：Siフォトダイオード
基本校正点：ヘリウムネオンレーザー波長点 632.8 nm
追加校正点：アルゴンレーザー又はチタンサファイアレーザー波長点
（457.9 nm, 476.5 nm, 488.0 nm, 496.5 nm, 501.7 nm, 514.5 nm又は700 nm以上950 nm以下
の任意波長より選択)
パワー範囲：100 μW以上500 μW以下（指定不可）
校正対象：InGaAs又はGeフォトダイオード
基本校正点：DFBレーザー波長点 1 310, 1 550 nm
追加校正点：チタンサファイアレーザー波長点 850 nm以上 950 nm以下の任意波長より選
択
パワー範囲：100 μW以上500 μW以下（指定不可）
21 測光量・放射量 分光応答度
高精度
21 測光量・放射量 分光応答度
高精度
21 測光量・放射量 分光放射輝度
（紫外,真空紫外）
校正対象：重水素ランプ、校正波長域160 nm以上300 nm以下
21 測光量・放射量 アパーチャ開口面積（放射測定用）
開口面積20 mm2以上540 mm2以下
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