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JSX-1000S & JCM-6000
蛍 光 X 線 分 析 装 置 と 分 析 走 査 電 子 顕 微 鏡 の クロスチェック分析
蛍光Ｘ線分析装置と分析走査電子顕微鏡のクロスチェック分析
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卓上蛍光 X 線分析装置
JSX-1000S
ElementEye
TM
シンプルオペレーション
簡単分析
ハイスループット
豊富なソリューション
卓上分析走査電子顕微鏡
JCM-6000
NeoScopeTM
直感的で容易な操作性
豊富な機能
ハイスループット
イージーメンテナンス
JEOL は蛍光Ｘ線分析装置と分析走査電子顕微鏡をトータルで提供する唯一の国産メーカーです。
開発・設計から外観までトータルデザインにこだわっています。
蛍光Ｘ線分析装置と分析走査電子顕微鏡のクロスチェック分析
蛍光 X 線分析装置は試料に含まれる元素を短時間で手軽に測定できるという特長があります。
そのため、試料中にどのような元素が含まれているかを効率良く把握するスクリーニング分析に適しています。
分析走査電子顕微鏡は試料表面を拡大観察しながら局所の分析をすることができます。
まず蛍光Ｘ線分析装置で試料がどのような元素で構成されているかを把握し、
次に試料の局所に注目して分析走査電子顕微鏡で拡大観察・分析をすることで異常個所や異物などの解析が可能です。
この２つの分析装置を組み合わせることにより効率良く精度の高い元素分析が可能となります。
分析例：海岸の砂のクロスチェック分析
ジルコニウム（Zr）は海浜や河川の砂に含まれています。しかし、全ての砂に Zr が含まれているわけではありません。蛍光 X 線分析装置を用いることで、
砂粒群に Zr が含まれているかを迅速に判別することができます。また、分析走査電子顕微鏡を利用すると、Zr が存在する砂粒を特定することができます。
蛍光 X 線分析装置と分析走査電子顕微鏡を併用することで、目的元素の所在を絞り込むことができます。
蛍光Ｘ線分析装置
試料中に含まれる元素の分析が
分析走査電子顕微鏡
試料を拡大観察しながら局所の元素を分析できます。
できます。
試料は固体、粉体、液体をそのまま
分析できます。
試料
Si Ka
反射電子像
EDS
Si Ka
+a
+b
Zr La
Zr Ka
O Ka
C Ka
Zr Kb
鉱物の主成分である Si の他に、微量成分の Zr が検出されました。
外観・仕様は改良のため予告無く変更する場合があります。
a ---b-
反射電子像のコントラストの違いから元素を予測することが可能です。