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セミナーNo.４１０２２７
★ 「未知の物質の特定」,「似た物質を判別するコツ」,「スペクトルの歪みの原因と補正」など
経験豊富な講師が語るスペクトル解釈のポイント！ 微小異物分析
FT-IRを用いた
-前処理テクニックから異物の同定ノウハウまで●日 時 ： 平成２６年１０月２３日(木） １０：３０∼１６：１５
●会 場 ： ［東京・五反田］ 技術情報協会 ８Ｆ セミナールーム
●聴講料 ： 1名につき ５０,０００円（消費税抜、昼食・資料付）
〔１社２名以上同時申込の場合のみ１名につき４５,０００円（税抜）〕
〔大学、公的機関、医療機関の方には割引制度（アカデミック価格）があります。
詳しくはお問い合わせください〕
１．FT-IRを用いた微小異物分析の前処理技術
サーモフィッシャーサイエンティフィック(株) モレキュラーグループ アプリケーショングループ マネージャ 小松 守 氏
【10:30-12:30】
１．赤外顕微鏡
1-1 カセグレン
1-2 アパーチャ 赤外顕微鏡の空間分解能
２．サンプリングツール
2-1 実体顕微鏡
2-2 ピックアップツール（ナイフ・プローブ）
2-3 ダイヤモンドコンプレッションセル 2-4 マイクロマニピュレーター
2-5 ミクロトーム
2-6 傾斜切削機
３．表面に付着した異物に適した分析手法
3-1 顕微透過法
3-2 顕微ATR法
3-3 顕微反射法
４．マトリックスに埋没している異物に適した分析手法
4-1 顕微透過法
５．微小異物の高感度分析テクニック
5-1 顕微透過法
5-2 顕微ATR法
６．黒色異物 （カーボンブラックを含んだ異物）に適した分析手法
6-1 顕微ATR法
6-2 顕微透過法
6-3 顕微反射法
７．積層試料の深さ分析手法 ［ラミネートフィルム］
7-1 顕微透過法
7-2 顕微反射法
7-3 顕微ATR法（イメージングATR）
８．イメージング
8-1 透過イメージング
8-2 ATRイメージング
【質疑応答】
２．FT-IR分析における測定手法とスペクトル解析
∼きれいなスペクトルを得るための条件設定と正しい情報取得のためのデータ解読∼
群馬産業技術センター 所長 宮下 喜好 氏
【13:15-16:15】
２．FT-IR測定手法
【習得できる知識】
FT-IRスペクトルの特徴、各種測定手法、微小異物分析技術、スペ
クトル解析手法、スペクトル誤解析回避手法
2-1 適切なFT-IRスペクトルを得るための測定手法の選択
2-2 試料採取と処理方法
2-3 適切な吸光度を有した真のスペクトル測定法
【講座の趣旨】
FT-IR分析は赤外顕微鏡や検出器等の発達により微小異物分析の
強力なツールとなっている。また、測定条件によっては、樹脂材料の
劣化・変色分析などの微量成分分析も可能となってきており、試料
【14:30-16:00】
によってはナノスケール厚の表面分析も可能となる。しかしながら、
適切なFT-IRスペクトルの取得には、試料や分析目的にあった適切
な測定手法を選択する必要があり、スペクトル解析にも十分な注意
が必要である。本講座では、FI-IRスペクトルの特徴と各種測定手法
の紹介、ならびにスペクトル解析の方法ならびに注意点を紹介する。
2-4 各種アクセサリーの適切な選択法
３．FT-IRによる微小部分析
3-1 赤外顕微鏡について
3-2 顕微透過スペクトルと反射スペクトル
3-3 顕微ATR法の微小部分析における優位性
3-4 顕微外部反射法による黒色異物の非破壊・非接触分析
3-5 二次元アレイ検出器の活用
１．FT-IRスペクトルの特徴
1-1 FT-IR測定パラメーターとスペクトル形 1-2 透過スペクトルと反射スペクトル
1-3 外部反射スペクトルと内部反射スペクトル
1-4 内部反射スペクトルとATRスペクトル
1-5 混合物系のATRスペクトル
1-6 測定手法とスペクトル形
3-6 一回反射ATRアクセサリーの活用
４．FT-IRスペクトル解析手法
4-1 FT-IRスペクトルの特徴と読み方
4-1 FT-IRスペクトルの歪みと歪み補正方法
4-2 FT-IRスペクトルの誤解析回避手法
「微小異物分析」セ ミ ナ ー 申 込 書
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No.４１０２２７
事業所
事業部
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所属部課 役職名
氏名
(ﾌﾘｶﾞﾅ)
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（現在案内が届いている方も再度ご指示ください）
１０／２３
申込書に必要事項をご記入の上FAXにてお申込みください。
ホームページからも申込できます。http://www.gijutu.co.jp/
申込書が届き次第、請求書・聴講券・会場案内図をお送りいたします。
受講料は返金致しませんので、ご都合の悪い場合は代理の方がご出席くだ
さい。
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